《品     牌》：斯帕克

《产品名称》：能量色散X荧光分析仪

《产品信息》：

采用进口的美国AMPTEK航天技术的SI（PIN）半导体探测器系列

采用*数字脉冲采集电路及的电源管理技术

采用进口X光管

采用的*

采用USB-CAN适配器

采用精密的系统控制电路和数字处理电路

采用专有的分析算法软件模块V2.0A

真空控制系统

配备品牌电脑

配备常用的制样工具

配备的压片机

配备的测试样环

配备的测试硬标样

《产品参数》：

分析元素范围：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；

元素含量分析范围：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；

采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理技术；

测量范围：1－30KeV； 

管压：0kV-30kV（激发源为 30KV-钨靶微型X射线管）；

管流：5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射）；

整机功率：50W；

整机能量分辨率：150±5eV；

检测时间： <200S；

工作环境温度：温度0-40℃；

工作环境相对湿度：≤99%（不结露）；

测量物质状态：固体、粉末均可检测，制样简单；

一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短

 《适用范围》：适用于矿山、选矿厂、冶炼厂、水泥等企业在生产过程中对产品质量进行监测