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TFRT-300型薄膜变温电阻测试仪
¥111HTIM-1001A高温电阻测试仪
¥111MTDL-1000型高温金属熔融电导率测试装置
¥111TCR-1200型金属材料高温电阻测试仪
¥1112000℃超高温导电材料高温电阻率测试仪
¥1111HVLT-600型绝缘材料高压漏电起痕试验仪
¥1111HTIM-1000C型高温绝缘材料电阻率测试仪
¥1111PRPM-3000高低温热释电系数测试系统
¥1111HMSP-1400型宽温域电导率测试仪
¥1111BKTEM-D3A型高温材料热电性能测试仪
¥1111GWIM-1000型高温体积表面电阻率测试仪
¥1111HTRC-800型高温导电材料电阻率测试系统
¥1111XZQ-5000型谐振腔法高温介电温谱测试仪
谐振腔法是一种重要的材料测量方法,具有广泛的应用前景。随着科技的不断发展,谐振腔法将会在材料科学、电子工程、通信技术等领域发挥越来越重要的作用。XZQ-5000型谐振腔法高温介电温谱测试仪是为中低损耗材料、均质材料、小样品测试等需求而开发的一款高精度高性价比的材料测试平台。融合矢量网络分析仪和试夹具于一体,可进行30MHz到110GHz频率范围内的微波复介电常数测试。该系列产品精度高、接口丰富,在科研实验中能发挥十分重要的作用。
主要特点:
1、 测试精度高,速度快
2、 频率范围: 0.1~110.0GHz
3、 系统配置简单,易操作,测量软件简单易用,自动化程度高
主要技术参数:
1、频率范围: 0.1~110.0GHz
2、测试温度:-50~1750℃
3、电磁参数测试范围: er'= 1.0~100,tanoc=1.0×10-4 ~ 5×10-2ur'= 0.1 ~10.0,tanou =1.0×103~1.0
一、谐振腔微扰法测试设备
频率范围:0.1~40.0GHz测试温度:室温~1750℃复介电常数测试范围:
cr'= 1.0 ~30.0
tan&e=2.0×10-~5×102ur'= 0.5~10
tanou = 0.001 ~1.0常温测试误差:
|Asr'/er'\≤1.5%当sr'=2.0 ~30.0
Acr'|≤ 2.0% × cr'+0.02当r'=1.05~2Atanoe≤ 15.0% tano8+ 2.0x10-4
Aur'/ur'\≤5.0%
Atanou|≤ 15% tanou + 5.0x10-4样品尺寸:
圆棒或方棒状小样品材料,直径:1.0~6.Omm,高度不低于30mm;
(实际尺寸视具体情况而定)
2、高Q腔法测试设备
频率范围:2.0~7.0 GHz、7.0 ~18.0 GHz测试温度:室温~1600℃
复介电常数测试范围:
cr'=l~10
tanoc=1.0×10-4~1.5×10-2常温测试误差:
|Acr'/cr'\≤2.0%当sr'=2~10
Acr'|≤ 1.8%x Er'+0.02当sr'=1.05~2Atanoe| ≤ 15% tanoe +1.0×10-4
样品尺寸:
2.0~7.0GHz
圆片材料直径:150.0mm,厚度:3.0 ~10.Omm
7.0~18.0 GHz
圆片材料直径:50.0mm,厚度:1.5~3.0mm