简介：

   工艺过程成像探头系统能够实现对颗粒的形貌和尺寸大小做实时的定性定量的准确测量，进而加深对过程的了解和实现过程的优化控制及放大。除了固体结晶以外，对其他非固体的领域，例如气泡，泡沫，乳状液，液滴，聚合物，流场等刻画也具有极其广泛的应用前景。它适用于生产中对过程的研究，产品开发及其改进。特别适用于监测，优化和控制高颗粒浓度过程及非透明颗粒的生产过程。

 技术指标：

• 测量范围：数微米到数毫米(与镜头放大倍数，相机等相关)
• 测量方式：在线测量晶体形态，平均尺寸，颗粒大小分布
• 测量浓度：可高达50%固体颗粒浓度(与颗粒形状相关)
• 工作温度：-10℃ - 120℃

性能特征：

• 工艺过程成像探头系统特殊设计的探头(相机/镜头/光源)可广泛地适用于许多困难物系（尤其是非透明颗粒物系及高固体浓度）。 探头具有耐腐蚀性，能够对ph值1~12范围内的样品进行测量。
• 由于特殊的光源设计,可有效地防止颗粒沉积/粘结于探头上。
• 根据不同物系及客户要求,可设计不同方案(包括气体清理系统)。
• 强大的图像处理功能可实现颗粒多尺度分割, 计算颗粒形状参数 (主元素分析和傅立叶变换)，聚类分析和定量产品/过程控制。