供应高频雷达物位计厂家
上海麦伦仪表有限公司
高频雷达物位计是采用了高达26GHz/24GHz的发射频率，加大了测量距离和精度，天线被进一步的优化处理，处理器也作了相应的提升，使其可以进行更高速率的信号分析。综合这些因素，就使得仪表的性能有了很大的提升，能够克服更多复杂的测量条件，获得更准确的测量数据。
| 产 品 说 明 ： |
ML701 | | | 应 用： 各种强腐蚀性液体 测量范围： 10米 过程连接： 螺纹、法兰 介质温度： -40～130℃ 过程压力： -0.1～0.3MPa 精 度： ±5mm 频率范围： 26GHz 防爆等级： Exd ia ⅡC T6 Gb 防护等级： IP67 现场显示：4位LCD 可编程 外壳：铝/塑料 信号输出： 4...20mA/HART(两线/四线)RS485/Modbus |
ML702 | | | 应 用： 耐温、耐压、轻微腐蚀的液体 测量范围： 30米 过程连接： 螺纹、法兰 介质温度： -40～150℃ 过程压力： -0.1～4.0MPa 精 度： ±3mm 频率范围： 26GHz 防爆等级： Exd ia ⅡC T6 Gb 防护等级： IP67 现场显示：4位LCD 可编程 外壳：铝/塑料 信号输出： 4...20mA/HART(两线/四线)RS485/Modbus |
ML703 | | | 应 用： 固体料、 过程容器或强粉尘 易结晶、 结露场合 测量范围： 70米 过程连接： 万向法兰 介质温度： -40～250℃ 过程压力： -0.1～0.1MPa 精 度： ±15mm 频率范围： 26GHz 防爆等级： Exd ia ⅡC T6 Gb 防护等级： IP67 外壳：铝/塑料 信号输出： 4...20mA/HART(两线/四线)RS485/Modbus |
ML704 | | | 应 用： 固体料、 过程容器或强粉尘 易结晶、 结露场合 测量范围： 80米 过程连接： 螺纹、万向法兰 介质温度： -40～250℃ 过程压力： -0.1～0.1MPa 精 度： ±15mm 频率范围： 26GHz 防爆等级： Exd ia ⅡC T6 Gb 防护等级： IP67 现场显示：4位LCD 可编程 外壳：铝/塑料 信号输出： 4...20mA/HART(两线/四线)RS485/Modbus |
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高频雷达物位计是采用了高达26GHz/24GHz的发射频率，加大了测量距离和精度，天线被进一步的优化处理，处理器也作了相应的提升，使其可以进行更高速率的信号分析。综合这些因素，就使得仪表的性能有了很大的提升，能够克服更多复杂的测量条件，获得更准确的测量数据。
| 产 品 说 明 ： |
ML701 | | | 应 用： 各种强腐蚀性液体 测量范围： 10米 过程连接： 螺纹、法兰 介质温度： -40～130℃ 过程压力： -0.1～0.3MPa 精 度： ±5mm 频率范围： 26GHz 防爆等级： Exd ia ⅡC T6 Gb 防护等级： IP67 现场显示：4位LCD 可编程 外壳：铝/塑料 信号输出： 4...20mA/HART(两线/四线)RS485/Modbus |
ML702 | | | 应 用： 耐温、耐压、轻微腐蚀的液体 测量范围： 30米 过程连接： 螺纹、法兰 介质温度： -40～150℃ 过程压力： -0.1～4.0MPa 精 度： ±3mm 频率范围： 26GHz 防爆等级： Exd ia ⅡC T6 Gb 防护等级： IP67 现场显示：4位LCD 可编程 外壳：铝/塑料 信号输出： 4...20mA/HART(两线/四线)RS485/Modbus |
ML703 | | | 应 用： 固体料、 过程容器或强粉尘 易结晶、 结露场合 测量范围： 70米 过程连接： 万向法兰 介质温度： -40～250℃ 过程压力： -0.1～0.1MPa 精 度： ±15mm 频率范围： 26GHz 防爆等级： Exd ia ⅡC T6 Gb 防护等级： IP67 外壳：铝/塑料 信号输出： 4...20mA/HART(两线/四线)RS485/Modbus |
ML704 | | | 应 用： 固体料、 过程容器或强粉尘 易结晶、 结露场合 测量范围： 80米 过程连接： 螺纹、万向法兰 介质温度： -40～250℃ 过程压力： -0.1～0.1MPa 精 度： ±15mm 频率范围： 26GHz 防爆等级： Exd ia ⅡC T6 Gb 防护等级： IP67 现场显示：4位LCD 可编程 外壳：铝/塑料 信号输出： 4...20mA/HART(两线/四线)RS485/Modbus |
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供应高频雷达物位计厂家是采用了高达26GHz/24GHz的发射频率，加大了测量距离和精度，天线被进一步的优化处理，处理器也作了相应的提升，使其可以进行更高速率的信号分析。综合这些因素，就使得仪表的性能有了很大的提升，能够克服更多复杂的测量条件，获得更准确的测量数据。
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