GTL高精密度板件高频双面探针台

(一) 设备与工作原理说明

GTL是专门为高性能、高速与高频基板设计的量测平台，除了提供一般基板量测时所需要的基本点针的需要之外，更采用了GTL多年在信号完整性(Signal Integrity)量测上的经验与独自开发出来在高性能基板量测时所需要的特别功能整合而成。

GTL提供许多专门为信号完整性量测而设计的功能，例如：可适应各种大小尺寸的基板、可同时做机板双面量测与校准、遥控针座定位等，都是目前设计生产能达到化高性能基板所需要的设备能力，且目前国内生产的设备并不具有这些功能。

(二) 设备及配件的图片

除了机台本体机械上的设计须达到各项高性能基板量测的要求，例如板件的固定、下针(X-Y-Z-Planarization)的调整与定位、旋转、稳定、便于观察等，GTL5050系统也整合了特别为高性能基板量测所需要的配件：

高精密度可调整高频针座：含X-Y-Z与平面度调整

远程控制马达带动高频针座：含整合式的摄像头与光学配件，含远程控制器

高频探针头与校准片

(三) 设备的特性

l GTL的一般特性如下

l 直立式双面板件探针台

l 可测大到20” x 30”的待测板件

l 适用于多种测试结构

l 可安装多至8个高频针座

l 固定稳固的针座底座

l 可移动平台含位置锁定装置

l 远程摇杆控制针座

l 整合式摄像头，易于观察与点针

l 整合式上方观察用显微镜，显微镜光源系统

l 高分辨率彩色摄向系统

(四) 设备的主要功能

适用于各式高性能基板的设计、建模、侦错、量测、品管等?