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一、高压加速老化试验机 HAST应用范围
加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿 命试验时间。 用于调查查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分 析失效率上升的原因所进行的试验。 随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受*的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也 相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型： 即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(电工委员会)所标准化。 注意事项：USPCT现在称为 HAST(高度加速应力试验)。
二、高压加速老化试验机 HAST满足标准
1.IEC60068-2-66 2.JESD22-A102-B 3.EIAJED4701 4.EIA/JESD22 5.GB/T 2423.40-1997
三、产品用途
主要用于太阳能光伏材料、线路板、半导体、通讯器材、磁性材料、IC集成等行业产品的耐高温、高湿、高压之性能；可以加速暴露产品在研发、生产过程中的不良或缺陷，以便更好的完善产品之各项性能指标。
四、结构简介
1.采用进口耐高溫电磁阀双路結构，在大程度上降低了使用故障率。
2.独立蒸气发生室，避免蒸气直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。
3.门锁省力結构，解决*代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。
4.试验前排冷空气;试验中排冷空气设计试验仓內空气排出)提高压力稳定性、再现性.
5.超*试验运转时间，长时间运转设备1000小时.
6.水位保护，透过试验仓內水位Sensor检知保护.
8.二段式压力安全保护装置，采用两段式结合控制器与机械式压力保护装置.
9.安全保护排压钮，紧急安全装置二段式自动排压钮
五、技术参数：
型 号 | TD-HST-25 | TD-HST-35 | TD-HST-45 | TD-HST-55 | TD－HST-65 | |
工作室尺寸 （D×L）cm | ∮25×35 | ∮35×45 | ∮45×55 | ∮55×65 | ∮65×75 | |
外箱尺寸 （W×D×H）cm | 80×90×125 | 95×95×135 | 100×105×150 | 120×130×170 | 135×140×185 | |
系统原理 | 通过蒸气加温加压；采用*的Packing技术箱体内压力越大时箱门就越紧 | |||||
性 能 | 温度范围 | 100℃～ 135℃（饱和蒸气温度） | ||||
湿度范围 | 70%～R.H（蒸气湿度） | |||||
温度精度 | 显示精度：0.1℃；波动度：±0.5℃；均匀度：±2℃ | |||||
压力范围 | 1.5～3.0Kg/cm2（含1atm） | |||||
时间范围 | 1Hr～9999Hr | |||||
加压时间 | 0～1.0Kg/cm2，约需35min | |||||
控 制 系 统 | 控制器 | *触控式LCD显示控制器 | ||||
传感器 | 采用耐高温、高压铂金电阻 | |||||
加热系统 | 钛合金电加热式加热器；采用加热系统与试验仓分离式 | |||||
补水系统 | 手自一体的补水功能，保证试验不间断。 | |||||
密封系统 | *型packing设计使门与箱本更紧密結合,与传統挤压式*不同,可延长packing寿命. | |||||
箱体材质 | 外箱材质 | SUS#304雾面线条处理不锈钢或高密度冷扎钢板纳米喷塑 | ||||
内箱材质 | SUS#316不锈钢；厚度：3～5mm；圆形设计，受压更均匀。 | |||||
保温层 | 聚胺脂硬质发泡 岩棉 | |||||
密封材质 | 耐酸碱、耐高压硅橡胶密封圈 | |||||
标准配置 | 试品架2层 | |||||
安全保护 | 进口耐高温密封电磁阀，采用双回路结构，保证压力无泄漏。 | |||||
整机配备超压保护，超温保护，一键泄压，手动泄压多重安全保障装置，在大程度上保证用户的使用和安全。 | ||||||
反压门锁装置，在试验仓內部有压力时，试验箱门无法打开. | ||||||
电源电压 | AC220V 50HZ 单相 | |||||
使用环境 | 温度：5℃～35℃；湿度：≤85%R.H | |||||
