导通电阻测试系统-LRE-200

导通电阻测试系统-LRE-200

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2024-09-03 07:45:25
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产品简介

「导通电阻测试系统」(以下简称「IRE」)是对焊点的电阻・连接部件的接触电阻等的导通电阻,进行快速、高精度、多通道测试的系统

详细介绍

「导通电阻测试系统」(以下简称「IRE」)是对焊点的电阻・连接部件的接触电阻等的导通电阻,进行快速、高精度、多通道测试的系统。
系统的特点,通过对1SMU(Source Measurement Unit)输出的扫描切换,实现多通道测试。
 
① 由控制部・测试部两个单元构成。
② 电脑负责测试管理和数据处理。
③ 电脑和测试板之间的I/F,使用LAN(基于以太网Ethernet的串行通讯)。
④ 测试部和控制部的连接LAN线。
⑤ 使用不间断电源,停电时可保护数据。
⑥ 1测试单元最多可搭载10块测试板。


Ø 测试规格

SMU板

有3种测试模式
1) AC导通电阻测试
2) DC电压测试
3) DC电阻测试

AC导通电阻测试

加载2kHz的交流,测试电阻值。

电流加载(AC导通电阻测试)

可从以下5个电流值中选择加载电流,进行测试。(有AUTO加载)
No. 加载 加载精度 加载频率 备考
1 10uA ±10% 2kHz±0.1%  
2 100uA ±10% 2kHz±0.1%  
3 1mA ±10% 2kHz±0.1%  
4 10mA ±10% 2kHz±0.1%  
5 100mA ±10% 2kHz±0.1%  

电压限定(AC导通电阻测试)

No. 限定电压 限定精度 备考
1 20mV +25%  
 

电阻测试(AC导通电阻测试)(有AUTO测试)

No. 测试量程 最小
分辨率
基本精度 备考
10uA 100uA 1mA 10mA 100mA  
1 2.0000kΩ 100mΩ 0.4%          
2 200.00 Ω 10mΩ 1% 0.4%        
3 20.000 Ω 1mΩ 2% 1% 0.4%      
4 2.0000 Ω 100μΩ 5% 2% 1% 0.4%    
5 200.00mΩ 10μΩ 10% 5% 2% 1% 0.4%  
6 20.000mΩ 1μΩ         1%  
7 2.0000mΩ 100nΩ         5%  
※测试精度为±(基本精度)/FS。

AUTO量程(AC导通电阻测试)
自动选择每个CH的量程。
选择电流加载量程和电阻测量量程。
首先选择电阻测量量程,在可使用的电流加载量程中,选择精度电流加载量程。
作为基本动作,如果测定电阻值在电阻量程的10%以下,则将进行量程DOWN,如果测定电阻值在电阻量程的99%以上,则将量程提升。

测试速度(AC导通电阻测试)

平均次数 测试时间
1次(1电源周期) 250ms/CH

DC电压测试

加载直流电流,测试电压。

电流加载(DC电压测试)

No. 加载量程 分辨率 范围   加载精度 备考
1 10.000uA 1nA 10uA ~   1nA   ±0.4%/FS  
2 100.00uA 10nA 100uA ~  10nA   ±0.2%/FS  
3 1.0000mA 100nA 1mA ~ 100nA   ±0.2%/FS  
4 10.000mA 1uA 10mA ~   1uA   ±0.2%/FS  
5 100.00mA 10uA 100mA ~  10uA   ±0.2%/FS  
 

电压测试(DC电压测试)

No. 测试量程 分辨率 范围   测试精度 备考
1 2.0000V 0.1mV 2V ~ 0.0000V   ±0.2%/FS  
 

电压限定(DC电压测试)

No. 限定电压 限定精度 備考
1 4.1V ±0.2V  
 

测试速度(DC电压测试)

 
平均次数 测试时间
1次(1电源周期) 41ms/CH (电源频率50Hz时)

测试时间计算式
 = 扫描切换时间 + 电路时间 + A/D   + 电路中断 + 演算・判定时间
 = 1ms          + 5ms      + 20ms  + 5ms        + 10ms
= 41ms 

No. 电阻量程 加载电流 分辨率 测试范围
1 200.00kΩ 10.000uA 0.01  kΩ(0.1mV/10 uA)  200kΩ(2V/ 10uA) ~ 0.00  kΩ
2 20.000kΩ 100.00uA 0.001 kΩ(0.1mV/100uA)   20kΩ(2V/100uA) ~ 0.000 kΩ
3  2.0000kΩ 1.0000mA 0.0001kΩ(0.1mV/1  mA)    2kΩ(2V/  1mA) ~ 0.0000kΩ
4 200.00 Ω 10.000mA 0.01   Ω(0.1mV/10 mA)  200 Ω(2V/ 10mA) ~ 0.00   Ω
5 20.000 Ω 100.00mA 0.001  Ω(0.1mV/100mA)   20 Ω(2V/100mA) ~ 0.000  Ω

AUTO量程(DC电阻测试)

因为,测量电压量程只有一个,所以,为了电压变成2V~0.2V,自动选择所加载的电流。

测试速度(DC电阻测试)

固定量程内的测试时间与DC电压测试相同。
使用AUTO量程时,除了扫描切换时间以外,还需要考虑量程切换的次数。
测试时间计算式
 = 扫描切换时间 + ( 加载・测试时间 × 量程切换次数 )
 = 1ms          + ( 40ms × 量程切换次数 )
时间 = 1ms + ( 40ms × 6 ) = 214ms ※为应对量程发振,最多1次。

Ø 温度测试单元

该单元是可选的,一个系统可以使用一台。
1) 温度传感器最多可以连接2CH,最多可以测量1点的温湿度。
2) 使用的温度传感器对应PT100或T型热电偶。

测试规格
项目 内容 备考
对应温度传感器 PT100/T型热电偶 PT100      JIS C 1604
T型热电偶  JIS C 1602
温度输入点数 2点/单元  
传感器线径 0.65mm~1.6mm 依据JIS Z-8704标准
测试温度范围 -200℃~+390℃  
测试温度分辨率 1℃  
测试温度误差 ±1.5℃  

测试模式

 
有三种:热冲击式・温度定值式・无温度判定式。
使用温湿度测试时,可以用温湿度测试单元,将温度数据中的1个数据和测试数据一起记录下来。

热冲击模式

可收录温度循环中的低温区/高温区中各1点数据。
该模式于使用温湿度板时。

(a) 由于,温湿度箱和测试系统是用不同的传感器测量温度的,因此,多少会产生温度偏差。(同一位置传感器的偏差在±2℃以内)
(b) 测试值以高温限定值和低温限定值的设定值为基点,在任意设定的收录待机时间后,在各温度下,测量1次,(将高温及低温作为1个循环,各测1次)各限定值的基准以5℃左右内为目标进行设定,而不是温湿度箱的设定温度。另外,将各试验时间(高温时间、低温时间)的一半作为目标设定收录待机时间。
注)因为,测试系统上搭载的测试板的数量会变动,所以,请不要在温度箱的温度保持时间结束后的3分钟后设定数据收录待机时间。
 
(2) 设定温度境界值
温度循环是从低温开始还是从高温开始,根据温度境界值和测试开始时的温度(来自温湿度测试的传感器表面温度)来判断。
(来自温湿度板的传感器与温湿度箱的传感器在同一位置时,箱内环境温度是试验开始的温度。)
从低温开始试验时,测试开始时的温度>温度境界值。
从高温开始试验时,测试开始时的温度<温度境界值。

例如)
欲从低温开始试验,测试开始时的温度(25℃) > 温度境界值(20℃以下)
欲从高温开始试验,测试开始时的温度(25℃) < 温度境界值(30℃以下)
 

温度定值模式

达到设定的温湿度,在任意设定的收录待机时间后,按照任意设定的收录间隔进行测试。
或者,达到设定温湿度后,不会随时测试温湿度。


无温度判定模式

在与恒温箱的温湿度无关的情况下,进行测试。
 

软件

 
系统的用户界面使用了Windows 10Pro的GUI,可以轻松编辑条件。
 

设定条件

以下为条件设定画面举例
◆热冲击模式的条件设定画面例


◆无温度判定模式的条件设定画面例
 
条件
项目 内容
测试模式 [AC电阻测试] [DC电阻测试] [DC电压测试]三种可选
温度模式 [温度定值] [温湿度定值] [无温度判定]三种可选
总试验循环次数
总试验时间
1个试验的温度循环次数或总试验时间
经过循环
经过时间
循环次数・时间计数的偏离数
已有测试完的数据,作为该数据的后续,在进行测试时设定。
温度稳定等待时间 高低温区到达开始,到进行测试之间的时间。
设定温度到达稳定的时间
平均次数 设定对测试数据的平均化次数(通常1次)
收录间隔 记录数据时间间隔
加载电流值 加载电流值(于DC电压测试)
高温 到达高温区的温度
低温 到达低温区的温度
温度境界值 为了判定测试数据是在高温区还是在低温区的设定。
通常,设定高温及低温之间的温度。
值判定 测试值在限定值以上,判定为NG。
高温・低温限定值 在热冲击中,可在低温区・高温区分别设定。
NG结束 设定对发生NG的样品是结束测试,还是继续测试。
相对值判定 以基准点的测试值为基准,超过变化量或变化率时,判定为NG。
判定基准点 测试变化量/变化率判定时的基准值
变化判定 选择变化率或变化量
高温・低温判定 变化率/变化量 判定
变化率设定为[%]、变化量设定为[mΩ]
热冲击试验中,在低温区・高温区分别设定。

◆温度模式
温度模式 说明
热冲击模式 在温度循环的低温区/高温区,各记录1点。
温度定值模式 到达设定的温度,在设定的待机时间后,按照收录间隔进行测试。
无温度判定模式 不管温度如何,按收录间隔进行测试。

 测试数据显示

测试数据如下所示。

显示数据内容
项目 内容
试验名 输入试验名称
试验状态 试验状态
开始时间 试验开始的时间
经过时间 试验经过的时间
CH数(结束) 结束测试的CH数
CH数(登录数) 试验的CH分配数
比率 试验结束CH的比率
随时显示数据 随时显示所有数据内的最终数据
Bd-Gp-Pt Bd:测试板编号/Gp:组编号/Ch:通道编号
经过时间 数据的收录时间(于热冲击以外的测试模式)
经过循环 数据的收录循环(于热冲击模式)
循环状态 高温/低温(于热冲击模式)
电阻值[Ω] 监控电阻值(于AC电阻测试・DC电阻测试时)
变化率[%] 于值判定,变化率判定时。
变化量[Ω/ V] 于值判定,变化率判定时。
电压值[V] 监控电压值(于DC电压测试时)
加载电流值[A] 加载监控电流值
温度[℃] 记录试验箱内的温度
数据数量 记录数据数量
CH状态 与状态画面的状態一样的CH状态
经过比率 循环进步率(热冲击模式)・时间进步率(热冲击意外的测试模式)

曲线显示

系统显示曲线如下所示。
 
■ 过程数据曲线
纵轴为电阻值;横轴为过程时间。
最多100CH同时显示。

数据导出

测量数据以逗号(、)分段CSV文件形式输出。
也可以在打印机(选配)上,打印测定数据和过程数据曲线。

温度修正

在温度记录单元的设定中,干球温度和湿球温度的修正值。
可对各温度CH进行修正值设定。
写入修正前温度和修正后温度。

Ø 样品连接

1) 通过中继电缆和测试线与样品连接,然后焊接到样品上。
2) 中继电缆和测试线无需工具即可轻松拆卸。
3) 测试线采用特氟龙「FEP」,耐热温度为200℃。
※ 测试线属于选配。

Ø 一般规格

 
控制部 电脑 PC Windows10 Pro
包含19inch Display
与测试部的连接 LAN (Ethernet)
其他 停电对策 不间断电源
停电发生后,收录数据并保存,以确保通电后继续测试。
收纳单元 主机 11插槽的外形尺寸: W430×D620×H300mm
重量:约27kg(搭载10块测试板时)
消耗电流:5A 以下(100V 使用时)
※不含凸起部分
耐噪声 1μsec 脉冲 2kV 1分钟
绝缘电阻 DC500V 100MΩ 以上
电源 AC 85V~264V 50/60Hz
使用环境 温度+10℃ ~ +40℃ 湿度75%RH 以下(无结露)
存放环境 温度-10℃ ~ +60℃ 

 构成清单

No. 名称 数量 备考
1 主机 1 11插槽
2 SMU板 1  
3 扫描板 10 含模拟总线电缆 200CH
4 扫描板用中继电缆线 20  
5 扫描板用测试线 20  
6 电脑 一台 带增设LAN卡・Office软件 1 含19inch显示器
7 不间断电源 220V 1  
8 LAN线 2  
9 温度记录单元    
10 软件安装盘 1  
11 使用说明书 1  
12 校正证明书 1  
13 不间断电源使用说明书 1  
14 T型热电偶 5m 1  



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