CCE电容温度特性测试系统

CCE电容温度特性测试系统

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具体成交价以合同协议为准
2024-09-03 07:38:45
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产品简介

●测试:静电容量(C)、介质损耗Tan(D)、容抗(|Z|)、温度(T)等

详细介绍

● 测试:静电容量(C)、介质损耗Tanδ(D)、容抗(|Z|)、温度(T)等。
● 配备:操作方便的专用软件
● 控制:测试部・环境试验箱・夹具・专用软件

特点
1)除了高精度,测试样品的操作性(装卸)好。因此,在测量部・环境测试箱部使用操作性好的测量夹具的同时,实现了专用软件一体化控制。
2)测试对象:静电容量(C)、介质损耗Tanδ(D)、容抗(|Z|)、温度(T)、过程时间(Min.),实现了从试验条件设定到数据记录的自动化。
3)标准配置:可自动测量20CH电容,最多可增加到60CH。
4) 通过4线方式,可以稳定地进行低电阻测试。

功能概要
规格
No. 项目 量程
1 测试电路 并联/串联
2 测试频率 120Hz~1MHz
3 测试信号(OSC Level) 0.001~2.000Vrms
4 偏压(DC Bias) 0V  (标配)
40V (选配)
100V(选配)
600V(选配)
5 测试通道数 20CH(标配)
40CH/60CH(选配)

1) 用Keysight Technologies的LCR测试仪「E4980AL」,实现对电容:容量、诱电正接、容抗的测试。
2) 使用扫描器,实现从20CH到60CH的测试。
3) 使用温度箱,实现温度设定及控制。
4) 读取的数据,可显示、印刷、作成文件导出。
5) 电脑通过Ethernet和RS485实现对系统的控制。
6) 操作系统(OS)为「Windows 10 Pro 64bit」,可通过图形I/F进行操作。

温度控制
1) 可50点进行温控,每次测量都可自动设定温度,并可多次循环重复。
2) 若选定温度基准点,则测量结果将以基准温度点的测试值为标准值,进行变化率计算。
3) 温度设定分辨为1℃
4) 到达设定温度,在等待时间结束后,进行测试。测试结束后,转移到下一个温度。
5) 最后温度段不测试,温度到达后,温度箱控制结束。

      温度变化程序图

控制软件
1) Windows 10的界面的操作性好
2) 测试条件和测试结果分别管理,记录并显示测试数据。
3) 在主界面上,可确认所有的样品的测试状态,把握测试的进展和状况。

     测试用夹具




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