膜厚分析仪特色 : 
  非破坏，非接触式检测分析，快速精準。 
  可测量高达4层的镀层 (4层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多至24种元素。 
  相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。
  全系列*设计样品与光径自动对準系统。 
标準配备: 
  溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。 
  準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。 
移动方式：
  全系列全自动载台电动控制，减少人为视差 。 
  *2D与3D或任意位置表面量测分析。

膜厚分析仪2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到国外,而大部分企业部门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,国家没有一个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于一种混乱的状态。
由于X光测厚仪是在线测量仪表，检测的厚度是钢板热态时的厚度，这样会和冷态时的厚度有一定的偏差，所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持*。同样如果轧制材质有变化时，也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测，计算出合金补偿系数，也可以使测量数据和实际材质厚度保持*。