一、三箱式温度冲击测试箱主要技术指标

1、温度范围：高温箱：60～ 200℃；低温箱：-70~0℃；试验箱：-55~85℃。

2、温度波动度：±0.5℃

3、温度偏差：≤±2℃（带载）

4、外形尺寸：深1200*宽1300*高1950㎜；

5、工作室尺寸：深500*宽500*高600㎜；

6、制冷系统：德国谷轮半封闭压缩机组，水冷式；其余主要制冷配件均为优质进口件。

7、加热系统：不锈钢加热管，带散热铝翅片。

8、钣金结构：采用SUS304全不锈钢制作。

9、加热功率：28KW；

10、控制系统：采用日本OYO触摸屏程序温度控制器，其余主要电器均采用优质进口件。

11、运行方式：程序运行

二、三箱式温度冲击测试箱规格型号

规格型号：

JR-WD-50 JR-WD-80 JR-WD-100 JR-WD-150 JR-WD-250 JR-WD-480

内部尺寸 HxD(mm)

50L:360×350×350  80L:500×400×400  100L:600×400×400

150L:600×500×500  250L:700×600×600  480L:800×800×750

外部尺寸HxD(cm)

50L:1560×1750×1440   80L:1700×1800×1440   100L:1800×1800×1440

150L:1800×1900×1540  250L:1900×2000×1640  480L2020×2250×2150

三、三箱式温度冲击测试箱产品用途

  三箱式温度冲击试验箱又名冷热冲击试验箱主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。该产品即适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用和产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子……等材料，可作为其产品改进的依据或参考。

   三箱式温度冲击试验箱不需要使用液态气体（LN2　或 LCO2）辅助降温，待测物*静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是杰瑞公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供*可靠的测试工具。

四、三箱式温度冲击测试箱满足标准

GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B：高温试验方法

GJB360.7-87 温度冲击试验

SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验机

五、三箱式温度冲击测试箱安全保护装置

1、电源超载、短路保护

2、接地保护

3、超温保护

4、压缩机超压保护

5、为保护设备,所有报警均会自动切断电源，并发出声讯提示。