一、简介：

边界扫描技术也就是通常所指的IEEE1149.1标准，是由的JTAG工作小组起草并且批准实施的行业标准，已经在行业中得到了广泛的应用，所以通常也称边界扫描技术为JTAG技术，又称边界扫描接口为JTAG接口。作为复杂数字电路故障诊断专用技术，目前行业对JTAG的支持已经比较充分，元器件厂商、EDA工具厂商以及自动测试仪器厂商都推出大量的技术、产品和设备并且成功应用于电子系统设计、生产和维护等产品生命周期全流程。

博基兴业代理的美国ASSET InterTech公司是边界扫描市场的，成立于1995年，专注边界扫描工具的开发，所研制的边界扫描开发平台不仅供应了思科、诺基亚、摩托罗拉等客户，更得到美国雷神公司、通用动力、洛克.马丁公司等的青睐，而且在泰瑞达的HSSub、洛.马公司的LM-STAR等测试系统中得到集成使用。

 

 

 

二、ASSET边界扫描测试平台ScanWorks测试系统组成介绍

ScanWorks软件功能：

1 根据网络表和JTAG芯片的BSDL文件，产生包含所需要的测试数据串（脉冲序列代码）的测试程序；

2 生成储存器和可编程器件在线烧录数据；

3 生成测试覆盖率报告；

4 测试错误的分析诊断（管脚级）及图形显示；

5 程序测试；

6 执行储存器测试；

7 可编程期间程序烧录；

 

 

 

 

四、系统主要功能

 

• Extended Boundary Scan Test 标准测试（基础测试、互联测试、簇测试、内存测试）

 



支持IEEE1149.4标准，对模拟电路进行测试 对直流耦合、交流耦合、差分信号等高速信号测试 支持Built-inself-Test(BIST)支持脚本，可对模数混合电路进行测试 。



 

1. Control of External Instruments
3. 可与ICT测试设备配合使用
4. 

5. 可与AOI测试设备配合使用

6. 

7. 可与功能测试配合使用

8. 

 

1. Flash/PLD Programming
   对高速Flash进行烧写，坏块检测
   PLD在线编程（JAM/STAPL/SVF）
   支持IEEE1532标准，可并行对PLD编程

 

1. Graphical Analysing and Debugging
2. 可具体对器件管脚灵活控制，具有单步及连续运行的诊断功能
3. 

4. 可准确定位故障点，通过故障网络可直接定位到原理图和PCB

5. 
7. 

客户众多，紧跟测试世界测试技术的前沿，产品不断满足各大客户测试的需要。

 



2.