清洁度分析系统BH-CIA780
显微镜
▪ 奥林巴斯(OLYMPUS)显微镜SZ61
检测内容
▪ 杂质平面尺寸(可扩展杂质高度测量)
▪ 杂质数量
▪ 杂质形状分类:颗粒或纤维
▪ 杂质性质分类:反光(金属),亚光(非金属,金属氧化物)
品牌
生产厂家厂商性质
所在地
日立扫描电子显微镜SU8700
面议JEM-2100Plus 透射电子显微镜
面议岛津等离子体发射光谱仪ICPS-81002
面议岛津便携式气体分析仪CGT-7100
面议高温高压气体吸附仪H-Sorb X600系列标准型
面议密理博空气微生物检测仪
面议密理博超纯水系统Super-Q® Plus
面议密理博Millicell 24孔细胞培养扳
面议密理博小型切向流超滤系统labscale
面议徕卡 M125 C, M165 C, M205 C编码型体视显微镜
面议蔡司Axioscope 5 用于生命科学和医学实验室日常工作和研究的智能显微镜
面议徕卡STELLARIS 5 Cryo 共聚焦光学显微镜
面议▪ 奥林巴斯(OLYMPUS)显微镜SZ61
▪ 杂质平面尺寸(可扩展杂质高度测量)
▪ 杂质数量
▪ 杂质形状分类:颗粒或纤维
▪ 杂质性质分类:反光(金属),亚光(非金属,金属氧化物)
依据杂质的反光和亚光在图像上的灰度差别,为金属与非金属颗粒的判定和判定提供最直接的参考数据和影像,用偏振光照射,记录在两个情况下进行比较,然后用于准确区分金属和非金属颗粒。
▪ 采集过程自动拍照、照片自动保存,进度状态实时可见;照片信息存入数据库,方便查询;
▪ 提供视场图片浏览功能,可以实现视场定位回溯、重新拍照等功能。
▪ 主界面包含多种数据展示方式:map图、颗粒分析结果、颗粒数据列表、统计直方图等。
▪ 支持模板化报告生成模式,包含统计数据、评级、滤片全貌图、颗粒照片等信息。