Ai Phase M3 薄膜热扩散系数测定仪利用温度波原理测量薄膜样品的热扩散系数

Ai Phase公司成立于2002年，一直致力于适用温度波分析(TWA)在微、纳米尺度上测量热物性的研究。我们的目标是在生物技术、航空航天、汽车和化学工业领域的开发TWA产品和服务并将其商业化。

我们的使命是开发的热技术，并为我们的客户提供真正的解决方案与密切的伙伴关系。热技术是*的，但仍然是一个未开发的领域，特别是在生物技术、纳米技术和材料科学。

薄膜热扩散系数测试仪利用温度波技术测试薄膜材料的热扩散系数，主要特点如下：
1. 重量轻，尺寸小；
2. 节能；
3. 操作简单，无须经验；
4. 适用于薄膜类型样品，包括高分子材料、金属、陶瓷和液体；
5. 高灵敏度全数字锁相放大器；
6. 无须前处理的快速测试方法；
7. 多模块功能，应用广泛

M3 type2仪器参数

测试方法：温度波的相位延迟

温度范围：50-180摄氏度，温度自动调整

热扩散系数测试范围：10^-8 ～10^-5m²/s

传感器尺寸：0.5mm*1mm

厚度分辨率：±1μm或±1%以内

样品规格

形状：样品上下表面平行

样品尺寸：最小尺寸2mm*2mm

厚度范围：1mm以下

种类：有机物，无机物，金属薄膜或薄片等，可测量液态熔融态的样品。

仪器特点

1. 可测量0.1-180摄氏度之间的热扩散系数

2. 温度自动调整

3. 操作简单

4. 制样方便

5. 快速测试

6. 精度高

7. 体积小巧，便于携带

8. 能耗低

标准：