FLUKE TI20 红外热像仪 TI20

FLUKE TI20FLUKE TI20 红外热像仪 TI20

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-15 14:43:25
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深圳市昊仪仪器仪表有限公司

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产品简介

FLUKE Ti20福禄克热成像仪：硅探测器，非制冷焦平面，光谱范围7.5-14微米，单波长激光点瞄准， 光学分辨率75:1，视场20º 水平x15º 垂直，自动或手动测量模式，100张图像存储，USB 接口

详细介绍

 

FLUKE Ti20福禄克热成像仪：硅探测器，非制冷焦平面，光谱范围7.5-14微米，单波长激光点瞄准，光学分辨率75:1，视场20º 水平x15º 垂直，自动或手动测量模式，100张图像存储，USB 接口

FLUKE TI20技术指标
热参数
探测器类型：
硅探测器，非制冷焦平面
测温范围
-10 ℃ 至 350 ℃（14 °F 至 662 °F））
准确度：
±2% 或 ±2ºC（取大者）
准确度（-10 至 0 C）：
+/- 3ºC
重复性：
±1% 或 ±1ºC（取大者）
NETD：
200 mK
温度显示分辨率：
0.1 ºC
光学/红外
光谱范围：
7.5-14 微米
目标瞄准：
单波长激光点（符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求）
光学分辨率：
75:1
测量圆点zui小直径：
8.1 mm（距离为 61cm 时）
视场 （FOV）：
20º 水平 x 15º 垂直
控制
焦点：
可聚焦，15 cm 至无穷远
温标：
可选择 ºC
色板：
灰色、反灰色、蓝红、铁红、彩虹、热金属、高对比度、蓝红、经色、琥珀色
测量模式：
可选择自动或手动
激光开/关：
随附
增益控制：
随附
级别控制：
随附
LCD 背光：
可选择亮或暗
TI20操作
可调辐射系数：
0.10 至 1.00，步长 0.01
液晶显示：
TFT 技术，适于室内及室外使用，70.5 mm x 53.5 mm
反射背景温度：
-50 至 905ºC
操作环境温度：
-10 至 50ºC
相对湿度：
10 至 90% 不结露
存放温度：
-25 至 70ºC [不带电池]
存储能力：
100 张图像
激光开启图标：
随附
电池电量不足图标：
随附
测量模式图标：
随附
热分析软件：
InsideIR（随附）
PC 软件操作系统：
Microsoft® Windows 2000® 或 Windows XP®
电气
电源：
充电电池组（随附）
电池寿命：
至少连续使用 3 小时
数据传输：
USB 接口，50 幅图像的总传输时间仅为 25 秒
存储设备：
快速存储器
其它
三脚架（6.35 mm （1/4） 20 统一标准螺纹）
 
重量（包括电池）：
1.2 kg
保修：
1 年
产地：
美国
撞击防护：
半正弦波，11 ms，30 g 峰值，符合 mil-prf-28800f
振动防护：
 
- 随机
6G
EMC：
EN 61326-1

FLUKE TI20红外热像仪 TI20 福禄克热像仪 TI20
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