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7-PLSpec光致发光光谱测试系统
7-PLSpec系列光致发光光谱测试系统可以测量半导体材料或其他发光特性材料（如GaN、ZnO、CdTe或某些复合薄膜等）在激光激发下的光致发光谱，进而分析材料能带等特征，是材料研究和半导体研究比不可少的测试设备。
技术参数：
1、光谱范围：200~2500nm内可选；
2、波长准确度：±0.2nm；
3、光谱分辨率：±0.1nm；
4、光谱带宽：0.2~10nm 可调；
5、光源波长：可选224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm等。
