7-CRD  CCD光电性能测量系统 

    CCD光电性能测量系统又称CCD成像电子学系统光电联试定量测试设备。

    本系统能够解决空间光学遥感器研制中光电成像器件选型、采取抗辐射加固设计及辐射校正设计及为光电成像器件受辐照后性能变化的机理研究提供检测手段等诸多科学问题；同时能够在业界对光电成像器件抗辐射性能评价的标准化和规范化起到积极推进作用。

技术参数：

1、工作波段：380nm~1000nm（其他波长范围可选）；

2、动态范围：≥80dB;

3、光谱分辨率：≤0.5nm；

4、峰值波长（测量精度）：优于±1nm；

5、中心波长（测量精度）：优于±1.2nm;

6、光谱带宽：（测量精度）：优于2nm；

7、相对光谱响应度（测量精度）：优于2%；

8、有效测量区域：≤φ120mm；

9、暗噪声：优于±0.5mv；

10、信噪比（测量精度）：优于±5dB；

11、饱和输出电压（测量精度）：优于±20mV；

12、响应非均匀性（测量精度）：优于1%；

13、响应非线性（测量重复性）：优于2%；

14、噪声等效曝光量（测量精度）：优于2%；

15、光辐射响应度（测量精度）：优于2%。