海淀介电常数介质损耗测量仪

满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在

内)下电容率和介质损耗因数的*方法

 海淀介电常数介质损耗测量仪主要技术特性  
Q 值测量范围  2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档  
固有误差  ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  
工作误差  ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  
电感测量范围  4.5nH ～ 140mH  
电容直接测量范围  1 ～ 200pF  
主电容调节范围  18 ～ 220pF  
主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  
信号源频率覆盖范围  100kHz ～ 160MHz  
频率分段 （ 虚拟 ）  100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用

 装置技术特性 

平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选  
极片间距可调范围：≥15mm 
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．测微杆分辨率：0.001mm

电感：
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
             
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH

一、 概述

GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项技术：

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 
计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 
gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具
，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。 

介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。

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