X荧光镀层测厚仪

CMI900X荧光镀层测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-15 14:04:57
435
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武汉顿杰测量仪器有限公司

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产品简介

CMI900 是一款性价比*的台式 X 射线荧光光谱仪,应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。

详细介绍

高性能X射线荧光光谱仪

快速精确的分析:正比计数探测器和50瓦微焦X射线管,大大提高了灵敏度
简单的元素区分:二次光束过滤器可以分离重叠元素
性能优化,测量元素范围广: 可预设参数
CMI900 提供800多种预设应用参数/方法
杰出的*稳定性:
自动热补偿测量仪器温度,纠正变化,提供稳定的结果
简单快速的光谱校准,定期检查仪器性能(如灵敏度),并提供必要的纠正
坚固耐用的设计

可以在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计

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