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X-射线流水线4000 测厚仪
面议X-RAY XDVM-微观结构镀层测量系统 测厚仪
面议FISCHERSCOPE MMS PC智能电镀层测厚仪
面议菲希尔MMS-PC多镀层测厚仪
面议PHASCOPE PMP10 DUPLEX镀锌层测厚仪
面议COULOSCOPE CMS STEP多层镍测量仪 测厚仪
面议PHASCOPE PMP10线路板厚度测量仪
面议SR-SCOPE RMP30-S铜箔厚度仪 测厚仪
面议COULOSCOPE CMS电解多镀层测厚仪
面议PHASCOPE PMP10铜镀层测厚仪
面议COULOSCOPE CMS库仑测量系统 测厚仪
面议CMS STEP电化学电位仪 测厚仪
面议反射率仪C84-Ⅱ
技术参数:
1.测量范围:0-100
2.重复精度:0.3%
3.显示数据与反射光强度成正比
4.仪器的光谱灵敏度近似等于Sc(λ)与标准、国家标准而研制的专用仪器。它可用于漆膜遮盖力的测定和反射率的测量。
该仪器*符合标准ISO3906-1980(E)、标准GB/T13452.3-92、GB9270-88、
GB5211.17-88对该仪器的规定要求。
本仪器由探头、主机、标准板(黑白各一块)、工作陶瓷板(黑白各两块)等组成。
探头采用0度照射,漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于硒光电池表面时产生
电讯号输入到直流放大器进行放大,并于以读数显示。