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X-射线流水线4000
连续滚动物料带的测量
硬件特性
FISCHERSCOPE® X-射线流水线 4000 非接触式地测量连续滚动的物料带。物料带可以是扁平或冲孔的,主要当物料带表面有已成形的或有突出的表面。仅一次运行,就能对实际存在的几乎所有金属镀层组合进行厚度测量和材料分析。设计精良的测量头既灵活又高效。防护罩装卸方便,并配备有双重的安全装置。物料带导向装置可以方便和快捷的设定。配备有高分辨率的彩色摄像头,使得对测试工件的定位准确和快速。
软件特性
对于FISCHERSCOPE® X-射线流?reg;线 4000 –正如其它FISCHERSCOPE® X-射线系列仪器一样 – 采用*的WinFTM® 软件进行频谱分析和测量处理。这样就可以对非常复杂的镀层系统进行测量 – 即使是没有校准过的,并且对实心物料带可以给出预测的测量精度。
HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术,FISCHER公司的X射线仪器具有其*的特点。
有一无二的WinFTM®(版本3(V.3)或版本6(V.6))软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统,同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析(使用WinFTM® V.6软件)
典型的应用范围如下:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
*多24种镀层(使用WinFTM® V.6软件)。
分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。
FISCHERSCOPE | |
测量方向 | text |
X-射线管型号 | text |
可调节的高压 | |
开槽的测量箱体 | |
基本Ni滤波器 | |
接收器(Co) | |
数准器数目 | text |
z-轴 | text |
测量台类型 | text |
测试点的放大倍率 | text |
DCM方法 | |
WinFTM® 版本 | text |
操作系统: |