冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱

冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2021-03-31 14:12:04
611
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产品简介

冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱简单介绍
TS系列冷热冲击试验箱设备规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；

详细介绍

冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱  的详细介绍

TS系列冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱

*设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；
设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到小；
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命；
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性；
多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）保证了用户多种功能和测试的需要；
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果；
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求；

*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制；
全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；
每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性；
USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；
制冷及电控关键配件均采用品牌产品，使设备的整体质量得到了提升和保证；

*设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验

型 号

 

TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W		TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W		TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W		TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
标称内容积（升）80150200300
试验方式气动风门切换2温室或3温室方式
性能高温室预热温度范围＋60～＋200℃
升温速率※1＋60→＋200℃≤20分钟
低温室预冷温度范围－78－0℃
降温速率※1＋20→－75℃≤80分钟
试验室温度偏差±2℃
温度范围TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
温度恢复时间※25分钟以内
试样搁架承载能力30kg
试样重量7.5kg7.5kg10kg10kg
内部尺寸（mm）W500600750850
H400500500600
D400500600800
外形尺寸（mm）※4W1460156017101880
H1840194019402040
D1500160017001900
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。
※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）

 

型号

 

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

标称内容积（升）

80

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

＋60～＋200℃

升温速率※1

＋60→＋200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

－78－0℃

降温速率※1

＋20→－75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2℃

温度范围

TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;

TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;

TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

内部尺寸（mm）

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸（mm）※4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

※温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）


 冷热冲击试验箱规格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此规格◎符合此规格★可配增加此功能※可配增加LN2功能

试验规范

 驻留温度(℃)
(exposure temp.)

驻留温度时间(Min)
(exposure time)

覆归时间
(recovery time)

 周期
或次数

试验起
始点

备注

适用机台型号
TS-(80/150/225/408)

高温

室温

低温

高温/低温

室温

S

U

L

MIL-STD-883E
(Method 010.7)

+85

+10

----

-55

0

≧10min
≦15min

----

含驻留时间&
转换时间≦15min

少
10次

低温或
高温

Temperature Cycling
(转换时间<1min)

实验过程若中断
超过总实验之1/10
次则实验须重做

◎

◎

----

0

+125

+15

◎

◎

----

0

-10

+150

+15

◎

◎

----

0

+150

+15

-65

0

◎

.

----

0

-10

MIL-STD-202F
(Method 07G)		+83

+3

-25

+10

-55

0

28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以内

5 cycle
25
50
100

低温

Transfer time
不超过5 min

◎

◎

◎

0

-3

+125

+3

-65

0

◎

◎

----

0

-5

-5

+125

+3

-65

0

◎

◎

----

0

-5

JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

±2

±2

±2

室温

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或无定义则
以3hr定义

手动转
移时间
2～3Min

为驻留时间
之1/10

5 cycle
除非有
其它规格

低温

Auto 
Transfer time
不超过30 sec
小试件
Transfer time
不超过10 sec

★

★

★

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

----

IPC 2.6.7+70

±2

----

0

+0

15 Min

----

2 Min 以内

100 cycle

高温
(试验结束
点在高温)

Transfer time
不超过2 min

★

★

★

-0

-5

+85

+5

-40

+0

◎

◎

◎

-0

-5

+105

+5

-55

+0

◎

◎

．

-0

-5

+105

+5

-65

+0

．

．

----

-0

-5

+105

+5

．

．

----

-0

IPC 2.6.6+85

+3

-25+10-55

+0

30 Min

10-15 
Min		5 cycle

◎

◎

◎

-0

-5
+125

+3

-5-65+0

◎

◎

----

-0

-5
Bellcore
GR-1221-CORE		+70

±2

----

≧10min
≦15min

----

含驻留时间
&转换时间≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

◎

◎

◎

+80

±2

◎

◎

◎

JESD22
A104-A		+125

+10

-40

+0

≦15min

含驻留时间
&转换时间≦15min

抽10次
可接受;
1000次
合格

Temperature
Cycling
(转换时间<1min)
实验过程若中断
超过总实验之1/10
次则实验须重做

◎

◎

◎

-0

-10

+85

+10

-55

+0

◎

◎

．

-0

+125

+10

-0

-10

+150

+10

-0

+150

+10

-65

+0

◎

．

----

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