冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱-昆山宏展仪器有限公司手机版

详细介绍

冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱 的详细介绍

TS系列冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱

*设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；
设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到小；
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命；
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性；
多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）保证了用户多种功能和测试的需要；
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果；
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求；

*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制；
全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；
每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性；
USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；
制冷及电控关键配件均采用品牌产品，使设备的整体质量得到了提升和保证；

*设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法方法107 温度冲击试验

型号

TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W

TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W

TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W

TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W

标称内容积（升）

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

＋60～＋200℃

升温速率※1

＋60→＋200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

－78－0℃

降温速率※1

＋20→－75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2℃

温度范围

TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

10kg

内部尺寸（mm）

500

600

750

850

400

500

600

400

500

600

800

外形尺寸（mm）※4

1460

1560

1710

1880

1840

1940

2040

1500

1600

1700

1900

※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）

型号

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

标称内容积（升）

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

＋60～＋200℃

升温速率※1

＋60→＋200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

－78－0℃

降温速率※1

＋20→－75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2℃

温度范围

TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;

TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;

TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

10kg

内部尺寸（mm）

500

600

750

850

400

500

600

400

500

600

800

外形尺寸（mm）※4

1460

1560

1710

1880

1840

1940

2040

1500

1600

1700

1900

※温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）

冷热冲击试验箱规格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此规格◎符合此规格★可配增加此功能※可配增加LN2功能

试验规范

驻留温度(℃)
(exposure temp.)

驻留温度时间(Min)
(exposure time)

覆归时间
(recovery time)

周期
或次数

试验起
始点

备注

适用机台型号
TS-(80/150/225/408)

高温

室温

低温

高温/低温

室温

MIL-STD-883E
(Method 010.7)

+85

+10

----

-55

≧10min
≦15min

----

含驻留时间&
转换时间≦15min

少
10次

低温或
高温

Temperature Cycling
(转换时间<1min)

实验过程若中断
超过总实验之1/10
次则实验须重做

◎

----

+125

+15

◎

----

-10

+150

+15

◎

----

+150

+15

-65

◎

----

-10

MIL-STD-202F
(Method 07G)

+83

-25

+10

-55

28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以内

5 cycle
25
50
100

低温

Transfer time
不超过5 min

◎

-3

+125

-65

◎

----

-5

+125

-65

◎

----

-5

JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

室温

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或无定义则
以3hr定义

手动转
移时间
2～3Min

为驻留时间
之1/10

5 cycle
除非有
其它规格

低温

Auto
Transfer time
不超过30 sec
小试件
Transfer time
不超过10 sec

★

◎

----

IPC 2.6.7

+70

±2

----

15 Min

----

2 Min 以内

100 cycle

高温
(试验结束
点在高温)

Transfer time
不超过2 min

★

-0

-5

+85

-40

◎

-0

-5

+105

-55

◎

．

-0

-5

+105

-65

．

----

-0

-5

+105

．

----

-0

IPC 2.6.6

+85

-25

+10

-55

30 Min

10-15
Min

5 cycle

◎

-0

-5

+125

-5

-65

◎

----

-0

-5

Bellcore
GR-1221-CORE

+70

±2

----

≧10min
≦15min

----

含驻留时间
&转换时间≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

◎

+80

±2

◎

JESD22
A104-A

+125

+10

-40

≦15min

含驻留时间
&转换时间≦15min

抽10次
可接受;
1000次
合格

Temperature
Cycling
(转换时间<1min)
实验过程若中断
超过总实验之1/10
次则实验须重做

◎

-0

-10

+85

+10

-55

◎

．

-0

+125

+10

-0

-10

+150

+10

-0

+150

+10

-65

◎

．

----

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