美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪主要特点
★搭载样品尺寸的兼容性，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品
★具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量
★彩色CCD摄像头，通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。
★卤素灯照明

*介绍：
金东霖科技有限公司是美国博曼X射线镀层膜厚测试仪中国区一级专业代理商，集销售、保养、校正（调试）及维修等专业服务一体化 ，让客户满意是我们金东霖科技始终的目标！

*性能功能特点
◆ 操作简单，测试速度快，灵敏度好，测量精度高
◆区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定zui多4层及24种元素。
◆精确度于世界，精确到0.025mil
◆数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
◆连接电脑进行通信,读出存贮数据进行保存或打印（适用U型主机）
◆统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
◆设有四个统计功能：zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、平均值（MEA）、测量次数（No）
◆可测量任一测量点，zui小可达0.025 x 0.051毫米

*仪器参数：
A、测量范围：0-1250/3000μm
B、使用环境：温度：18℃-25℃,湿度：
C、zui薄基体：0.15mm
I、外形尺寸：450mm*450mm*600mm
J、重量：30Kg
K、电源：50KV
D、测量精度：±（1%-3%）+1.5μm
E、分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下为0.1μm,100μ以上为1μm）
F、zui小基体面积10*10mm

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