XAU多功能X射线测厚仪是一款多用途、运用广泛的光谱仪，仪器配置硅片半导体或SDD探测器，应用核心的EFP算法和微聚焦技术，可以很好的检测微小及超薄的电镀镀层厚度，也可以很好的检测欧盟RoHS及有害物质和金属成分的分析。仪器利用X射线的快速及无损检测的优势，真正做到一机多用。

        随着环保的要求越来越严格，很多大的电子电器厂家，不仅对电镀层的厚度有要求，还对产品是否含有有害物质需要严格的管控，这就需要仪器光谱仪不仅能检测镀层的厚度，还要能测出来RoHS、卤素等法规规定的有害物质的含量。

       XAU系列多功能X射线测厚仪的仪器使用了硅片或SDD的探测器，不仅能用于检测电镀层的厚度，还可以用于分析元素的含量，经过公司核心的EFP算法，还可以用于检测有害元素的含量、贵金属成分的分析、合金成分分析以及电镀液成分的分析检测等。

        专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用：不同层有相同元素，也可精准测量和分析。

选择我们的优势

1、一机多用，无损检测 

2、最小测量面积0.002mm²  

3、可检测凹槽0-90mm的异形件  

4、轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测