在电镀应用中，磁性材料或是铁基材料经常会用到镀镍铜镍的镀层种类，但是因为首层和第三层都是镍元素，所以常规的X射线测厚仪无法区分，所以只能测量出双层镀镍层的总厚度，无法单独测量出首层镍层和第三层镍的厚度。
我公司经过对镀镍铜镍层的研究，应用第三代EFP无标样算法，解决了这一难题，应用X射线光谱仪镍铜镍镀层厚度检测仪一样可以快速、无损的分开测量出镀镍铜镍三层镀层的厚度。
镍铜镍镀层厚度检测仪
应用领域
X射线镀层测厚仪应用于金属电镀镀层、非金属电镀及涂层分析领域；
技术指标：
多镀层分析，1～6层；
测试精度：0.001 μm；
元素分析范围从元素分析范围：氯(Cl)- 铀(U)，涂镀层分析范围：氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)
测量时间：1~60秒(根据不同种镀层种类在工程师的建议下可以自动调节)；
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；
小测量直径0.05mm(小测量面积0.002mm²)
对焦距离：0-90mm(可以检测多90mm的凹槽面的镀层厚度)
微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶(高配微焦钼靶)；
6个准直器及多个滤光片自动切换；
XYZ三维移动平台，MAX荷载为5公斤；
高清CCD摄像头(200万像素)，准确监控位置；
多变量非线性去卷积曲线拟合；
高性能FP/MLSQ分析；
仪器尺寸：618×525×490mm；
样品台尺寸：250×220mm；
样品台移动范围：前后左右各80mm、高度90mm。
图谱界面
软件支持无标样分析；
宽大分析平台和样品腔；
集成了镀层分析界面和合金成份分析界面；
采用多种光谱拟合分析处理技术；
镀层测厚分析精度可达到0.001μm。
分析报告结果
直接打印分析报告；
报告可转换为PDF，EXCEL格式。
