天瑞仪器 品牌
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X射线电镀测厚仪指用X射线方法测量电镀层厚度的仪器,也用于镀层成分分析。
X射线电镀测厚仪仪器优点:
1、快速检测,检测一个点的厚度仅需要几秒到几十秒
2、无损,无需要破坏样品,直接经过X射线照射,就可得出镀层厚度数据
3、便捷,对样品没有特殊要求,基本无需对样品进行处理
二、X射线镀层测厚仪Thick800A介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司 研发生产的镀层测厚仪Thick 800A
X射线镀层测厚仪Thick800A是天瑞仪器在Thick 680的基础上研发生产的最新一代镀层测厚仪。新仪器在硬件、软件上都有很大的改进,运用最新型的上照式设计,配备先进的Si-Pin半导体探测器,软件上加入了无标样FP法的,使仪器在镀层行业的运用上更广泛了。而且天瑞仪器更是从美国采购了全套的电镀镀层标样,能够满足电镀和表面处理厂家几乎所有的镀层厚度的测量。同时仪器还可以分析电镀液及镀层成分的分析。
膜厚测试仪型号
800A特点:
该仪器专门针对电镀及表面处理行业中的镀层厚度测量、膜厚检测、镀层元素分析和电镀液的成分分析。
1、上照式,X射线光线从上方照射到检测样品上,对样品的形状没有要求,可以满足不规则样品的测试需求,而且更适合测量硅晶片等不适合接触测量台的样品;
2、狭缝(准直器),主要是限制X射线的照射面积,可以精确调节X射线的尺寸,以满足各种尺寸样品的测试需求。仪器可以提供4种准直器,分别是0.1mm、0.2mm、0.3mm、0.5mm四种,最小直径达0.1mm,可以轻松实现精小部位的精确测试,同时可根据测试需求电动切换准直器,根据样品的大小,选择合适的准直器,得到足够的激发强度,使测量更加准确;
3、样品测试平台,仪器可分为手动移动平台和高精度的可编程的自动移动平台,重复定位的精度小于0.005mm;
4、辅助光斑定位测量,简便快捷的激光样品定位系统,可自动定位测试高度,并能保证测试点和光斑重合;
5、视频摄像头,配备高精度视频摄像头,样品放入样品腔,可以实时观测样品,同时鼠标可控制移动平台,保证鼠标点击的位置就是被测点;
6、高分辨率探测器,运用先进的SDD探测器,能量分辨率远好于比例接收器,适合测量多层镀层及干扰比较大的镀层成分,使测量结果更加准确;
镀层测厚仪Thick 800A技术参数:
1、镀层分析元素:从硫(S)~铀(U);
2、最多可以分析五层金属镀层厚度(4种镀层+底层基材),一次可同时分析多达24个元素;
3、分析镀层厚度从0.01~50um(金属镀层不同,分析厚度会有差别);
4、移动样品平台100mm×100mm;
5、仪器尺寸:576(W)×495(D)×545(H)mm;
6、重量:90KG
7、电源:交流220V±5V,最好配置1000W交流稳压电源。
镀层测厚仪Thick 800A标准配置:
1、镀层测试主机一台
2、系统软件光盘一片
3、校正标准块一片
4、电脑一台(品牌联想)
5、喷墨打印机一台(品牌佳能)
6、数据线及电源线若干。
镀层测厚仪Thick 800A应用领域:
1、PCB板行业,镀金镀镍镀铜、镀锡镀铜等镀层厚度测量;
2、装饰性镀层镀铬、镀铜、镀镍等镀层厚度测量;
3、紧固件螺丝及螺母防腐镀层测量,如铁镀锌、铁镀镍镀锌等镀层厚度测量;
4、电子行业接插件和触点的测量;
5、电子元器件,二极管、圆晶镀层测量,如铜镀锡、镀银,圆晶镀银、镀硅的厚度测量;
6、专业电镀和表面处理企业的电镀镀层测量