Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。

其特点为：激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个准直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm）。是非破坏性测厚仪器的*机型。

应用：

    多镀层金属厚度测量

    合金鉴定及化学分析

    电镀液分析

    金成色分析

 

特点：

    标准50瓦微焦X射线管

    计数率增加，精度提高

    可升级75瓦光管

    多准直器

    计数率和光斑尺寸之间的*平衡

    镭射聚焦

    改善系统再现性（消除人为干扰）

    标准FP软件包

    综合应用模式

    无损金属镀层测厚仪简单校准

    开槽式设计样品台，自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标

    提供中文等7种语言界面

    主营： 测厚仪系列

 

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