MCP-S330-四探针自动Mapping测试系统-惠州市天卓创智仪器设备有限公司手机版

产品简介

科技快速进步，电子半导体的开发及应用，往往会应产品的需求而相对提高成品组合间的品质，如:阻抗、阻抗率。目前在半导体业间常需要此阻抗、阻抗率的数据来了解其相互之间问题。由于以传统的方式来测量需要耗费人力、物力及大量时间去套入公式以求得结果,造成检测中一大困扰，因此，日东精工分析科技便研发了更方便的测量仪器来解决，不用再计算繁琐的公式了。符合了国际间的IS0 1853、ISO 2878、ASTM D9......

详细介绍

规格参数

technical parameter

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有效测量范围	X轴:300mm Y轴:300mm Z轴:50mm
样品厚度	≤40mm
探头垂直操作高度	≈50mm
定位分辨率	X轴、Y轴、Z轴:0.1mm
重复定位精度	X轴、Y轴:±0.08mm;z轴;Z轴:±0.1mm
探针映射	4-pin 系列: Pin-to-pin 1.0mm,1.5mm,(间距 5mm)
样品测量基座	白色 PVC 片材或玻璃板 X、Y 轴带 50mm 间距刻度
样品传送	手动(不兼容自动载体机等)
接口	USB 端口
电源	85 至 264 VAC(50/60Hz) 能量消耗:64 VA
外形尺寸和重量	约543Wx492Dx410H(mm); 约22kg