产品概述: 高速显微光谱测量工作站GP-58C是在科研级明暗场正置金相显微镜XJ-58C基础上加载高速了显微光谱仪,是高品质和高精度的显微光谱分析平台,具有高信噪比,高灵敏度,能够快速采集紫外—可见—近红外全谱段的透射、反射光谱。适用于光子晶体研究、纳米材料光学性能表征、微加工材料光学性能表征、表面等离子体研究。也可用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,以及材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。总放大倍数:50X-500X
◆主要特点:
1、低杂散技术,高速光谱传输技术,实现微妙量级光谱检测
3、全谱段技术,最宽谱段覆盖范围达320—1100nm
4、紫外敏化技术,实现了深紫外光谱探测。空间分辨率:最小5X5um2
5、采用了的无限远光路设计,提供了的光学系统
6、系统配置了电动调焦载物台,高清相位模块、高亮度LED照明
7、采用大视野目镜和明暗场长距平场物镜,视场平坦,成像清晰
8、配置了偏光、暗场装置、可选配微分干涉装置,拓展了功能
◆典型应用:
1、光子晶体研究、纳米材料光学性能表征、微加工材料光学性能表征、表面等离子体研究
2、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验
3、观察材料表面的某些特性,金属、矿相内部结构组织
规格参数: | 序号 | 名 称 | 参数 |
| 01 | 光学系统 | 无限远光学系统,镜筒透镜f=200mm |
| 02 | 观察镜筒 | 三目镜筒(带有0.3XCCD适配镜) |
| 03 | 目 镜 | 1、超宽视场平场目镜WF10X/26mm2、WF10X/22mm,带0.1mm十字分划板 |
| 04 | 超长工作距离平场无限远明/暗场物镜: | 5X/NA0.20(W.D=14.47mm)、10X/NA0.25(W.D=16.0mm)、20X/NA0.40(W.D=10.5mm)、50X/NA0.55(W.D=5.1mm) |
| 05 | 物镜转换器 | 带DIC插孔的五孔转换器 |
| 06 | 载物台 | 精密测量平台,工作台尺寸:150X150mm 移动范围50mmX50mm, |
| 07 | 滤色片 | 滤色片(绿、蓝、中性) |
| 08 | 调焦 | 电动调焦 |
| 09 | 光源 | 透射照明: LED灯5W,宽电压AC85V—260V,亮度连续可调 反射照明:科勒照明卤素灯12V50W,宽电压AC85V—260V,亮度连续可调,带孔径光阑和视场光阑 |
| 10 | 偏光装置 | 检偏镜可360度旋转。起偏镜、检偏镜均可移出光路 |
| 11 | 光谱模块 | 高速显微光谱测量工作站 |