GP-58C显微光谱工作站GP-58C

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2025-02-14 08:42:57
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产品简介

产品概述:高速显微光谱测量工作站GP-58C是在科研级明暗场正置金相显微镜XJ-58C基础上加载高速了显微光谱仪,是高品质和高精度的显微光谱分析平台,具有高信噪比,高灵敏度,能够快速采集紫外可见近红外全谱段的透射、反射光谱

详细介绍

产品概述:
        高速显微光谱测量工作站GP-58C是在科研级明暗场正置金相显微镜XJ-58C基础上加载高速了显微光谱仪,是高品质和高精度的显微光谱分析平台,具有高信噪比,高灵敏度,能够快速采集紫外—可见—近红外全谱段的透射、反射光谱。适用于光子晶体研究、纳米材料光学性能表征、微加工材料光学性能表征、表面等离子体研究。也可用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,以及材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。总放大倍数:50X-500X
◆主要特点:
1、低杂散技术,高速光谱传输技术,实现微妙量级光谱检测
3、全谱段技术,最宽谱段覆盖范围达320—1100nm
4、紫外敏化技术,实现了深紫外光谱探测。空间分辨率:最小5X5um2
5、采用了的无限远光路设计,提供了的光学系统
6、系统配置了电动调焦载物台,高清相位模块、高亮度LED照明
7、采用大视野目镜和明暗场长距平场物镜,视场平坦,成像清晰
8、配置了偏光、暗场装置、可选配微分干涉装置,拓展了功能
◆典型应用:
1、光子晶体研究、纳米材料光学性能表征、微加工材料光学性能表征、表面等离子体研究
2、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验
3、观察材料表面的某些特性,金属、矿相内部结构组织

规格参数:
序号 名  称 参数
01 光学系统 无限远光学系统,镜筒透镜f=200mm
02 观察镜筒 三目镜筒(带有0.3XCCD适配镜)
03 目  镜 1、超宽视场平场目镜WF10X/26mm2、WF10X/22mm,带0.1mm十字分划板
04 超长工作距离平场无限远明/暗场物镜: 5X/NA0.20(W.D=14.47mm)、10X/NA0.25(W.D=16.0mm)、20X/NA0.40(W.D=10.5mm)、50X/NA0.55(W.D=5.1mm)
05 物镜转换器 带DIC插孔的五孔转换器
06 载物台 精密测量平台,工作台尺寸:150X150mm    移动范围50mmX50mm,
07 滤色片 滤色片(绿、蓝、中性)
08 调焦 电动调焦
09 光源 透射照明: LED灯5W,宽电压AC85V—260V,亮度连续可调 
反射照明:科勒照明卤素灯12V50W,宽电压AC85V—260V,亮度连续可调,带孔径光阑和视场光阑
10 偏光装置 检偏镜可360度旋转。起偏镜、检偏镜均可移出光路
11 光谱模块 高速显微光谱测量工作站
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