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ImageMaster® HR TempControl 控温型高精度光学传递函数测量仪
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透射式中心偏差检查仪
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AspheroMaster®高精度非球面与自由曲面表面形貌检测仪
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ImageMaster® HR IR紧凑型高精度红外MTF测量仪
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ImageMaster® HR紧凑型高精度MTF测量仪
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ImageMaster® Universal高精度光学传递函数测量仪
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ImageMaster® Afocal 高精度望远系统光学参数测量仪
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ImageMaster® Cine 高精度摄影光学系统测量及装调仪
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LM-1精密亮度计
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WaveMaster® LAB Horizontal大口径研发型波前测量仪
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Bristol非接触式光学测厚仪
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SpectroMaster®高精度折射率测量仪
面议OMI-SWIR
快速准确的波前传感器
采集速度高达300Hz，分析速度高达200Hz
使用InGaAs相机优化了Swir波长范围
单道（OMI）和双道（Optino）精确计量
光学元件、激光器和激光二极管
测试任何焦距和直径（带附件）
大动态范围
中（35x35）和高采样（60x60）选项
适合生产
技术规格
硬 件 | |
| 测试 | 光学元件、激光器和激光二极管 |
| 可测激光二极管功率 | 更高的功率需要降低系统（可用） |
| 斑点数量（见下面的摄像头） | 35x35（标准相机），60x60（大尺寸相机） |
| 标准透镜的直径和焦距 | (f=0.2mm,f=11mm),(f=0.15mm,f=7mm) |
| 软 件 | |
| 软件（控制和分析） | 传感器适用于64位Win7、Win 8.1、Win 10 |
| Zernike系数的均方根重复性 | <2nm rms (λ/800 @ 1550nm） |
| 模拟状态波前测量的均方根重复性 | < λ/100 |
| 精度和动态范围 | λ/20- λ/100 (取决于校准), -±50 λ |
| 照相机 | （详情见下页） |
| 探测器、波长范围和冷却 | InGaAs. 0.90μ -1.7μ, 非制冷或 Peltier冷却型 |
| 连接, bits | 千兆以太网，12位或14位 |
| 采集速度 | 在全分辨率下从100Hz到340Hz。速度高达1700Hz，可用于定制摄像头 |
| 触发 | 是 |
| 曝光时间范围 | 5ums-100msec（未冷却），5ums-1s（冷却） |
| 配 件 | |
| 光源、扩束器和压缩机 | 测试波长下的高质量激光二极管，扩束器/压缩器 |
OMI型号：冷却与未冷却冷。高采集和计算速度
标准分辨率
分辨率：35x35点
芯片尺寸：9.6x7.68平方毫米
像素数：320x256。像素大小：30米
高采集速度：高达344fps
高计算速度：高达200Hz
InGaAs高精度探测器
波长范围：0.9-1.7（μ）
千兆以太网连接
高分辨率
分辨率：60x60点
芯片尺寸：15.9x12.7平方毫米
像素数：636x508。像素大小：25米
高采集速度：高达301fps
高计算速度：高达100Hz
InGaAs高精度探测器
波长范围：0.9-1.7（μ）
千兆以太网连接
OMI模型详细信息（标准分辨率模型）
波前传感器模型 | OMI-SWIR-HS-340 | OMI-SWIR-118 | OMI-SWIR-118-C |
特点 | High-speed, Uncooled, 344fps | Uncooled, 118fps | Cooled, 118fps |
形式 | Rectangular | Cylindrical | Cylindrical |
热电制冷 | No. Temperature stabilized TEC1 | No. Temperature stabilized TEC1 | Yes |
输出（位） | 14 | 12 | 12 |
工作温度（.c） | Minimum +10 | Minimum +10 | -20 to +55 (case) |
功率要求（V dc） | 10.8-30 or via PoE | 12 | 12 |
电力消耗 | 10.8 (@ 12V DC)-12.5W (@ PoE) | 7.2 | 33.6 |
重量（摄像头+OMi）（g） | 340+50=390 | 660+50=710 | 1420+50=1470 |
尺寸（长、宽、高，单位：mm） | 78x55x55 | 80x90x71 | 116x90x99 |
采集速度 | 344 | 118 | 118 |
环模Zernike系数分析速度（Hz） | ~200 | ~100 | ~100 |
OMI模型详细信息（高分辨率模型）
波前传感器模型 | OMI-SWIR-100-HR | OMI-SWIR-301-HR-HS | OMI-SWIR-100-HR-C |
特点 | High-resolution, Uncooled, 100fps | High-resolution, Uncooled, 301fps | High resolution, Cooled, 100fps |
热电制冷 | No. Temperature stabilized TEC1 | No. Temperature stabilized TEC1 | Yes. TEC2 |
输出（位） | 14 | 14 | 14 |
工作温度（.c） | Minimum +10 | Minimum +10 | -20 to +55 (case) |
功率要求（V dc） | 10.8-30 or via PoE | 10.8-30 or via PoE | or via PoE |
电力消耗 | 10.8W(@12VDC)- 12.95W(PoE) | 10.8W(@12VDC)- 12.95W(PoE) | 19W(@12VDC)- 22W(PoE) |
重量（摄像头+OMi）（g） | 370+50=420 | 370+50=420 | 810+50=860 |
| 尺寸（长、宽、高，单位：mm） | 78x55x55 | 78x55x55 | 90×80×80 |
| 采 集 速 度 | 100 | 301 | 100 |
| 环模Zernike系数分析速度（Hz） | ~50 | ~100 | ~50 |
OMI-SWIR-HS-340 and OMI-SWIR-100-HR OMI-SWIR-100-HR-C HR OMI-SWIR-118(C)
快速回路中的在线对准
通过连续循环监测彗差和杂散光，复杂光学系统的对准变得容易。
显示彗差和杂散光的单个（x，y）分量以及总系数。
由于软件可以显示感兴趣的一个组件，因此可以一次对一个组件进行优
化。
减去数据中存在的倾斜和散焦的贡献后的MTF
带摄像头的OMI
PHYSICAL
尺寸
∼89（长）x 90（宽）x 71（高）mm（带标准相机）
~90（长）x 80（宽）x 80（高）mm（大格式相机)
重量400g-1500g
摄像头Ingas，千兆以太网连接，12-14位
主要特点
测量技术
波前传感器
在平行光或透镜焦点处测试
平行光（带校准装置） 在透镜焦点处（带有针孔校
准装置），可用不同波长的光源
可用校准单位
高质量平行光源（电动或手动）针孔校准装置
通用性
单程测试任何光学元件和激光器
配件
提供全套配件（例如光源）
软件
通过软件方便地对准透镜组：该软件使用昏迷和散
光以图形方式显示光学系统的未对准。
激光稳定：软件给出激光束聚焦的图形指示。
