品牌
其他厂商性质
北京市所在地
ImageMaster® HR TempControl 控温型高精度光学传递函数测量仪
面议
透射式中心偏差检查仪
面议
AspheroMaster®高精度非球面与自由曲面表面形貌检测仪
面议
ImageMaster® HR IR紧凑型高精度红外MTF测量仪
面议
ImageMaster® HR紧凑型高精度MTF测量仪
面议
ImageMaster® Universal高精度光学传递函数测量仪
面议
ImageMaster® Afocal 高精度望远系统光学参数测量仪
面议
ImageMaster® Cine 高精度摄影光学系统测量及装调仪
面议
LM-1精密亮度计
面议
WaveMaster® LAB Horizontal大口径研发型波前测量仪
面议
Bristol非接触式光学测厚仪
面议
SpectroMaster®高精度折射率测量仪
面议微透镜阵列：75x75点列 成像角度1.7°
CMOS 自准直仪精度：0.5″
紧凑、轻便
Zernike 系数精度：λ/3000
波前（rms）精度：λ/1000
尺寸：：150 mm X 100 mm X 50 mm 重量：400g
处理速度：10 Hz（波前传感器通道）
处理速度：100 Hz（自准直通道）
