3120A 相噪短稳分析盒稳定度测量

3120A 相噪短稳分析盒稳定度测量

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-11-18 12:46:19
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产品简介

产品描述Microsemi(并购了Symmetricom公司)公司开发了直接数字相位噪声测量技术,这项技术已经扩展到一个测试探头

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产品描述

Microsemi(并购了Symmetricom公司)公司开发了直接数字相位噪声测量技术,这项技术已经扩展到一个测试探头。精确的相噪和阿伦方差测量成本显著降低。
 
Microsemi(并购了Symmetricom公司)的3120A是一款高性能的测试探头,可以测量射频源端口和双端口设备的振幅、相位和频率的稳定(频率:0.5MHz—30MHz)。
 
3120A的测试内容如下:
 

主要特点

● 实时“带状图”相和具有亚皮秒(PS)精度和频率的差异
● 频率计数为:13+位每秒,17位(升级选项))
● 阿伦方差(ADEV)通常小于1E-13(t=1s)
● 改进的阿伦方差(MDEV)方面,哈德曼方差(HDEV),时间偏差(TDEV)。(升级选项)
● RMS集成的相噪和相噪偏移量为:
● 1Hz—100kHz,水平低于-170dBc/Hz(升级选项)
● AM噪声偏移量为:1Hz—100kHz,<-170dBc/Hz(升级选项)
● RMS集成的抖动时间小于100fs,残余抖动为:1Hz—100kHz(升级选项)

主要优点

● 在几秒内能显示出测试结果
● 支持不同频率的输入和参考的测试
● 高性价比的解决方案
● 无测量的校准要求,节省时间
● 易于具有直观图形用户界面的软件使用
● 小尺寸
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云计算、电子商务、能源电力、石油石化、工业自动化、 智能交通、安防、智慧城市、
物联网等领域。

主要特点

● 独立输入和参考频率为:0.5MHz-30MHz
● PM噪声的互相关测试偏移量为:1Hz-100kHz
● 阿伦方差(ADEV)通常为:<1E-13(t=1s)
● SFDR为:-100dBc,,通常低于-120dBc
● 频率和相位差图以一百万+点记录描绘振荡器漂移
● 包括数字I/O拓展端口和独立ADCs输入
● 易于使用的测量软件,完整多线程高性能测量
● ASCII文件格式拥有灵活的数据导入和导出选项

可选功能(软件升级)

● AM噪声
● MDEV、HDEV、TDEV和抖动测量的信号统计特性
● 频率计数器许可协议
● 模板测试许可
● 所有受支持的测量,都具有用户可定义的限制线
3120A需要一台PC主机和用户提供的外部参考振荡器。几乎所有方面的测量性能的准确度、重复性、本底噪声和杂散响应都依赖于能够提供参考信号,如:采用一个独立的低噪声OCXO以进行相位噪声和调幅噪声测量等。
 

技术指标

功能及指标

3120A

带宽

0.5~30MHz(正弦波)

输入信号电平

-5~20dBm

相噪测量准确度

NA

短稳指标

<1E-13@1秒(0.5Hz带宽)

系统底噪

(10MHz输入)

1Hz,@5MHz<-140dBc

1Hz,@25MHz<-130dBc

10kHz,@5MHz<-170dBc

10kHz,@25MHz<-165dBc

 


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