ST-HTXB环境老化试验系统
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陕西天士立科技有限公司
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环境老化试验系统ST-HTXB
基础信息
n适用于各种封装类型的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、桥堆、IGBT单管/模块、IPM模块等环境老化试验
n包括高温反偏/HTRB,高温栅偏/HTGB,高温高湿反偏试
验/H3TRB,其中HTRB和HTGB可二合一
n漏电流检测1nA~20mA,高压2000V@3000V
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性能指标
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