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电子及配件测试 高加速寿命试验箱概要：
主要用于国防、航天、汽车部件、电子及配件、塑胶、制药等行业相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节
电子及配件测试 高加速寿命试验箱
型号 | J-HAST-40 | J-HAST-60 | J-HAST-80 |
容积 | 40L | 60L | 80L |
整体尺寸(WxHxD) cm | 900x1800x1120 | 以图纸为准 | 以图纸为准 |
温度控制范围 | 105℃～+150℃ | ||
湿度控制范围 | 65%RH ～100 %RH | ||
温度上升时间 | ≤100min(从常温到120℃ 且湿度到达85%RH的时间） | ||
温度偏差 | ≤±1.5℃（空载） | ||
温度均匀度 | ≤±1.5℃（空载） | ||
湿度偏差 | 当湿度≥75%RH、湿度偏差≤±3%RH； 当湿度＜75%RH、湿度偏差≤±5%RH； | ||
湿度分布均度 | ±3%RH | ||
压力 | 2kg/cm² | ||
压力工作范围 | 0.02～0.19MPa/相对压力 | ||
加压时间 | 0.00 Kg ～ 1.04 Kg/cm²约 45 分 | ||
压力波动均匀度 | ±0.1Kg | ||
符合标准 | GB,ISO,ASTM,ULCEN... | ||
电源 | AC220V或AC380V | ||
注：本产品可根据客户需求定制B-HAST或U-HAST以及单腔式或双腔式 | |||
