一、 设备名称：冲击试样缺口投影仪
二、 型    号：CST-50
三、 性能说明：
         CST-50型冲击试样缺口投影仪是我们根据美标ASTM　E23-02《材料缺口 试样标准冲击试验方法》和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样 V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。
四、 主要技术指标：
        1、 投影屏直径 ：180mm
        2、工作台尺寸 ：
              方工作台尺寸：110×125mm
              方工作台直径：90mm
               工作台玻璃直径：70mm
        3、工作台行程 ：
                纵向：±10mm
                横向：±10mm
                升降：±12mm
        4、工作台转动范围: 0～360°
        5、仪器放大倍率：50X
                物镜放大倍率： 2.5X
                投影物镜放大倍率：20x
        6、光源（卤钨灯）：12V   100W
        7、电源：  220V   50Hz
        8、外形尺寸：515×224×603mm
        9、重量：  20kg