X射线荧光测厚仪
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技术参数：测试类型：单镀层、复合镀层
厚度范围：Ag0.25-10um
Ni 0.5-16um
Au 0.1-3um
标准样件误差：5%
测试依据：产品检验文件和设备安全操作规程
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