GS-191AR膜/涂层透反射测量系统
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上海楚光仪器技术有限公司
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AR膜/涂层透反射测量系统
Gamma Scientific的反射和透射测量系统可在抛光基板上提供逆反射，薄膜涂层的快速光谱测量，用于测量不同样品的镜面和慢反射测量系统。
特点
完整的光谱分析
测试涂层均匀性和颜色
研发或生产的全周期测试
系统类型
全自动集成生产线反射测量
半自动可编程X-Y平台，用于快速检测，研发，质量保证
桌面和手持系统 - 主要用于研发或小规模研究
应用
平板显示器玻璃
逆反射（AR）涂层检测
触摸屏显示屏
光学滤光片/镜片涂层
物理气相沉积涂层检测（PVD）
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