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型号/参数 | R-800 | R-1000 | R-1100 |
探测器 | Sony线形CCD阵列 | 面阵CCD | 面阵背照式CCD |
测量方法 | 参考物质法 | 参考物质法 | 参考物质法 |
检测范围 | 380-850nm | 380-1000nm | 380-1100nm |
光斑尺寸 | 9.5mm | 9.5mm | 9.5mm |
测量孔径 | 9.5mm | 9.5mm | 9.5mm |
信噪比(全信号) | 250:1 | 400:1 | 450:1 |
测量重复性 | <>(400-800nm) | <>(400-800nm) | <>(400-800nm) |
测量准确性 | 0.5% | 0.3% | 0.2% |
检出限 | 0.5% | 0.2% | 0.1% |
单次测量时间 | <>秒 | <>秒 | <>秒 |
操作系统 | Windows 7/8/10 | Windows 7/8/10 | Windows 7/8/10 |
电源 | 220V-50Hz | 220V-50Hz | 220V-50Hz |