PCB荧光X射线膜厚检测装置ALEX
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2023-06-09 11:31:24
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重庆津泽机电科技有限公司

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产品简介

PCB荧光X射线膜厚检测装置ALEX
荧光X射线元素分析仪WFD-70,X射线荧光元素分析仪FD-04,X射线荧光元素分析仪FD-03,X射线荧光元素分析仪FD-02,荧光X射线膜厚检测装置H,HD,L,PCB

详细介绍

PCB荧光X射线膜厚检测装置ALEX

PCB荧光X射线膜厚检测装置ALEX

荧光X射线元素分析仪WFD-70X射线荧光元素分析仪FD-04X射线荧光元素分析仪FD-03X射线荧光元素分析仪FD-02,荧光X射线膜厚检测装置HHDLPCB

产品介绍

荧光X射线元素分析仪WFD-70

轻元素的高灵敏度测量

特征

配备新开发的不需要液氮(SDD)的检测器,无需液氮。

配备单色器法激发源

双曲面单色器法配备激发源,可以高灵敏度测量轻元素。

可以测量从 9F 92U 的各种测量元件。

X射线荧光元素分析仪FD-04

搭载全新混合光学系统

特征

可选择的照射区域

污染物分析 (1 mmφ) 到大孔径 (20 mmφ) 可以选择,展示了高精度质量控制测量的能力。

自动进样器还有两种可互换类型:使用杂交小直径样品杯时可连续测量 12 次,使用大直径 (50mmφ) 标准物质时可连续测量 6 次。

X射线荧光元素分析仪FD-03

从轻元素 (13Al) 到重元素 (92U) 的高灵敏度测量,操作简单

特征

配备新开发的不需要液氮(SDD)的检测器,无需液氮。

通过安装用于从轻元素 (13Al) 到重元素 (92U) 的高灵敏度测量的

新光学系统,灵敏度得到了极大提高。同时安装了新开发的便于测量的软件。

节省空间和节能设计

尽管有一个大样品室,但该设备的主体足够小,可以容纳在 40 厘米见方的范围内。功耗小于100W,生态设计。

X射线荧光元素分析仪FD-02

设计简单,通用机器,但用途广泛

特征

配备新开发的不需要液氮(SDD)的检测器,无需液氮。

用于高灵敏度微区测量的新型光学系统

大大增加了准直器的强度。

节省空间和节能设计

尽管有一个大样品室,但该设备的主体足够小,可以容纳在 35 厘米见方的范围内。功耗小于100W,生态设计。

荧光X射线膜厚检测装置

特征

高测量精度和再现性

自动程序控制的高性能 X 射线管和高灵敏度检测器大大减少了测量薄膜厚度的变化。

追求便利性

专用软件和附带的 PC独立于主机。考虑到紧急情况下备份和数据组织的可操作性,是一款追求生产现场便利性的测量机。

500万日元范围内的合适售价

我们消除了所有浪费并模块化了内部结构。已实现初始成本的显着降低。维护也很出色,可以快速更换必要的部件。


分析仪FD-04.png分析仪L.png分析仪WFD-70.png

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