仪器厂商：德国布鲁克公司／Bruker AXS
型号：D8 Discover
到货日期：2007年6月

技术指标：

Cu靶X光管电压≤50kV、电流≤40mA   
测角仪工作方式：θ/2θ方式
扫描范围：- 3°～150° 

5轴尤拉环样品台的测试范围：
K轴：-10°到91° F轴：±360° X轴：-50mm到+50mm
Y轴：-50mm到+50mm
Z轴：-1.5mm到+2mm

测角仪精度：0.0001°、准确度≤0.02°

功能特点：

高分辨X射线衍射仪配有Gobel 反射镜和双晶单色器，可获得近平行的入射X射线，可以对单晶、薄膜及纳米材料等进行精细的X射线衍射分析。

主要用途：

单晶及单晶外延膜分析、摇摆曲线的测定及φ扫描、三轴晶衍射测量（即倒易空间等强度分布图测量，Mapping）、薄膜的物相分析、厚度及粗糙度测量、小角散射测试。