品牌
其他厂商性质
深圳市所在地
CISC RAIN Xplorer 卷对卷测试仪用于对卷轴上的RAIN RFID标签进行自动测试。
高速卷轴上RAIN RFID标签的自动化测试
紧凑型、可负担得起的工业级机器。
支持的协议包括：ISO/IEC 18000-63、EPC UHF Gen 2v2、RAIN RFID
读取EPC
读取存储器
写内存
多频点及功率等级(F,P)
可根据要求增加NFC标签测试
主要特点：
卷对卷测试仪涵盖的典型测试用例：
灵敏度测试
用户定义的通过阈值
通过/不通过
内存初始化
内存验证
测试速度18000
失败标记选项：信号、日志文件、墨水标记、点标签涂抹器、暂停和手动更换.
