光电探测器特性测量实验

光电探测器特性测量实验

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2022-10-10 09:23:31
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产品简介

光电探测器特性测量实验

详细介绍

RLE-SA02 光电探测器特性测量实验

实验简介

  光电探测器件是光电系统核心组成部件之一。频谱特性、时间特性、电特性都是光电探测器的重要参数。了解和掌握这些重要参数的概念、特性和测试方法是光电专业本科生的专业知识。本产品提供的探测器包括:光电二极管、热释电探测器、光敏电阻。涵盖常用的光电探测器,种类齐全,内容丰富;是光电检测相关课程的基础实验。

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实验内容

1、热释电探测器光谱响应特性实验;
2、硅光电二极管光谱响应曲线测试实验;
3、幅频法测量光敏电阻响应速度实验;
4、脉冲法测量光电二极管响应速度实验;
5、偏置电压对光电二极管响应速度影响测试实验;
6、负载电阻对光电二极管响应速度影响测试实验。


知识点

光谱响应曲线、热释电探测器、硅光电二极管、光敏电阻、幅频响应法、脉冲响应法、光电特性、伏安特性。

 

选配设备参数

数字示波器:

带宽100MHz,采样频率1GHz。

 

主要设备参数

1.光源组件:
色温:3200K,功能:可连续调光,冷却方式:风冷工作噪音:≤33dB,输出光强度:120000lx,尺寸:长×宽×高为110mm×170mm×200mm。
2.光学调制盘组件:
镂空圆形结构,25Hz定频调制。
3.探测器组件:
光谱响应特性测试电源:25Hz调制盘驱动,检频输出,精密信号放大电路增益150倍;

探测器时间响应测试电源:含硅光二级管、光敏电阻测试,负载电阻可变100Ω~100kΩ,偏置电压可调5V~15V,内置正弦信号/脉冲信号,频率可调;

光电二极管:响应波长400nm~1100nm;

热释电探测器:响应波长0.3μm~9μm。
4.单色仪:
焦距:300mm光栅配置:刻线数1200 线/mm,闪耀波长500nm,(标准配置)使用波长330nm ~ 900nm,(另有多种规格光栅选配,使用波长可扩展至185nm ~ 20μm 之内的相应波段);波长准确度:±0.2nm(1200L/mm光栅);波长重复性:0.1nm (1200L/mm 光栅);分辨率:≤0.2nm(1200L/mm 光栅);相对孔径:F/6;线色散倒数:2.7nm/mm(1200 线/mm 光栅);狭缝:宽度0.02mm ~ 3mm 连续可调,高度2、4、6、8、10 五档;光轴中心高:160mm;外型尺寸:(长× 宽× 高)385×300×200(mm);仪器重量:15Kg。
5.光学组件:
红外滤光片,Φ25.4mm,带宽720nm~2500nm。
6.实验手册及保修卡。


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