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优质线性电机可以提供比其他运动技术更好的生产率和耐性,这就是为什么所有的*产品设备(如:抓取与放置)都基于该*的技术,spea 4020高速飞针测试机也具备这些特性。
XYZ轴高性能线性电机
超高速运动
无磨损免维护
持久的机械稳定性
SPEA 4020 飞针测试设备满足高密度元器件电路板测试,X-Y-Z轴上的线性光学编码器使定位测试更精准。SPEA的软着陆技术可以令探针轻柔触碰电路板及元器件,避免划伤电路板。
XYZ axis在XYZ 轴上的高性能线性光学编码器
微型-SMD (01005) pad 精准接触
灵活轻薄的印制电路可靠的测试,柔性电路板
长久位置量测的稳定性
超高速软着陆技术:无碰触损伤,在PCB及微型-SMD上无压力
spea 4020高速飞针测试机探针与量测单元间距离越短量测越精确,根据这个显而易见的电路原理SPEA设计了特殊的飞针测试设备。驱动及量测单元被集成放置在每个飞针头上,拥有更好的测量速度及性能。
超高的量测精度(0.1pF )
信号完整性
无量测信号衰减或干扰
实时信号采集
4020 spea飞针测试设备能合并4个顶部高速飞针,测试头以及配备接触电路板底的额外工具,提高产量以及测试能力。
每一个飞针测试探针能用于在线测试、上电测试、SINK/电源模拟、数字激励/感应、在线烧录、边界扫描、预分频器。
4个顶部探针从上面执行飞针测试,底部可升降平 台可用于针床治具,多个大电流电源、数字输入/输出、高速信号、固定探针、平面支撑。
SPEA拥有数百位自动化测试技术的创造者与革新者,及MEMS测试领域*的制造设备。作为一家国际化的ATE测试设备服务商,SPEA为众多合作伙伴提供检测仪器和解决方案,协助他们迎接新的挑战与机遇,满足各电动汽车、半导体、新能源、医疗电子、通讯等产业对测试成本、速度、精度的更高需求。