1.      光源：半导体激光器波长 532nm，输出功率≥50mW，含有偏振片；

2.      主机波长范围：200-700（nm），自动狭缝，精度≤0.01mm；C-T 式结构光栅光谱仪，光栅条数1200 L/mm，单色仪焦距f=300mm，散射光反射镜 R=100mm；

3.      接收单元：光电倍增管；波长准确度≤±0.4nm；波长重复性≤0.2nm；杂散光≤10 ^-3 ；相对孔径 D/F=1/5.5；

4.      光学元件：1/2 波片Ф10mm，通过波长 532nm；散射光聚焦镜 1:1.8，F=50mm；聚焦透镜Ф11.5，f=85mm；狭缝6 挡包括 0.10、0.18、0.36、0.5、1 和关闭；偏振片400-700nm，Ф25mm，通光孔径Ф21mm，消光比400:1，匹配氦氖激光器调整架；

5.      包含附件：标配专用软件一套，垂直样品架一个，背散射样品架一个，方形液体样品架一个，固体样品架一个，斜入射聚焦系统一套，斜样品架一个，毛细管样品架一个，二分之一波片一个，偏振片一个，圆柱样品池一个，圆柱样品池一个，USB 连接线两条，三芯电源线两条，一个；

6.      软件功能：波长范围设置 200-700nm；计数范围根据查看样品峰值的高低来设置坐标值；扫描设置包括扫描方向与扫描次数设置；采集设置包括域值设置、高压设置、采样间隔积分时间、狭缝设置，采样间隔包含：1nm、0.5nm、0.2nm、0.1nm、0.05nm；扫描方向、积分时间，可根据采集样品的需求来设置；快捷系统设置栏包括波长范围、计数范围、扫描方向、扫描次数、域值设置、高压设置、采样间隔、积分时间、狭缝设置等；快捷峰值检索栏包括波长、峰值等；采集模式包括波长采集、时间采集、域值采集。