电容器的损耗因数和其他关键值关系
时间:2023-09-08 阅读:423
对于电容器的质量至关重要的数据是:
电容
损耗因子(取决于频率!!)
串联电阻(正如我们在其他文件中所解释的那样,无法正确测量串联电阻)
三者中的任何一个都依赖于相同类型的测量:
如果使用通用低信号测量电桥,则电桥采用四点测量方法工作:电流由“被测设备 (DUT)”上的两个独立点产生“,电压是由两个不同的单独点测量的。通用测量电桥比较电压和电流读数之间的相应相位,并根据这些读数计算上面列出的三个值。这种四点测量至少可以在很大程度上抵消测量电缆造成的畸变。
请注意,MKP 电力电容器本质上具有非常低的串联电阻和非常低的损耗因数;因此,使用低信号测量设备进行此类测量总是很困难,并且总是存在大量潜在的读数错误和失真。无论读取哪一个值,都始终存在读取错误的风险,并且值也会存在相当大的变化。
在型式试验中,我们使用经过校准的高精度仪器,例如TETTEX测量电桥。但请注意,这些不是低信号测量电桥!但即使这些设备也存在读取错误的风险。
如果客户坚持,可以选择使用如此高精度的设备在电源频率下测量一些电容器。然而,我们必须指出,我们并没有使用高精度实验室仪器来测量批量生产的所有电容器。这在常规生产中是不可能的。对于我们的生产例行测试,我们使用 100Hz 的 AGILENT 4263B 型小信号测量电桥。然而,在我们的常规生产中,我们认为所有电容器“通过”且保持在规定的限制水平内。对于一些客户和“他们的”电容器,我们根据他们的要求出具一般测试报告,其中列出了极限值供客户参考。
我们了解客户要求手头有一些测量结果,以证明电容器状况良好。然而,通过合理的技术手段无法实现串联电阻和损耗因数tanδ这两个关键特征的测量;我们必须承认,使用常用设备无法给出足够准确的结果。
按照我们的阈值实践进行的粗略测量可以提供一定的保证,但也存在测量误差的风险,并可能再次产生误导。
自20世纪30年代末以来,东图林根州一直在开发和制造电容器。ELECTRONICON是高品质电容器专家,其产品用于功率因数校正、谐波滤波器、能量传输、驱动技术和中间电路,以及许多其他交流和直流应用。凭借其电容器生产,ELECTRONICON成为格尔恩豪森SYSTEMELECTRIC集团中最大的公司。