产品介绍：

BXR-626系列X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。

产品特点：

技术特点：

1.X-Y-Z样品平台移动装置
BXR-626系列X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。

2.X射线管激发系统
激发系统采用*的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、水平的X光管，指标达到水平。功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。

3.高分辨率的探测器系统
进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。分辨率能达到149eV±5ev。

4.能谱仪电子学系统
前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。

5.计算机分析系统
品牌计算机；高分辨率彩色液晶显示器。高级喷墨打印机。

6.系统软件
的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。

7.电源
AC 220V～240V、50Hz 。额定功率：120W。选配高精度参数稳压电源。