TBD专业定制各类探针台（可出初步方案）
专业定制各类探针台（可出初步方案）
（1）我司具备强大的技术研发团队，技术团队都具备五年以上非标探针台研发与定制经验。
（2）可以出货标准探针，也可以定制其他各类探针台周边设备
（3）产品有：高精度/简易型探针台，高精度探针座，同轴/三轴夹具，三维磁场探针台等。 参考价面议
DCH-196优测高低温真空探针台
优测高低温真空探针台DCH-196
UOTEST DCH-196高低温真空探针台是我司自主研发的一款在高低温环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现器件及材料表征的IV/CV特性测试，射频测试，光电测试等。通过液氮或者压缩机制冷，可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料，半导体器件等研究方向具有广泛运用。一般用于相关单位实验室。 参考价面议
Uotest基础型探针台DM4
Uotest基础型探针台DM4
DM系列探针台是我司一款基于高校教育与实验室而研发的基础型晶圆测试探针台。其结构紧凑，设计精密，价格实惠，在高等院校教学和小型实验室科研过程中得到广泛运用。配合对应的仪器仪表，可以用于测试各类器件的 IV/CV,PIV,光电信号等。也可以放置于手套箱内，配合特殊气氛使用。一般适用于学校和工厂小型实验室。 参考价面议
DC-3H优测高精度同轴/三轴夹具（10PA/100FA）
优测高精度同轴/三轴夹具（10PA/100FA）
（1）顶丝锁定不易松动
（2）不锈钢设计刚性强
（3） L 型设计可防止和显微镜干涉
（4）100FA/10PA漏电 参考价面议
DR/L-40m/V优测经济型探针座
优测经济型探针座
型号： DR/L-40m
主要参数：
•线性无后座力移动，带磁力开关，磁性吸附
•X-Y-Z 行程为 12mm*12mm*12mm，精度2微米
•精密牙具，40 牙/英寸
•高刚性结构，弹簧消隙 X-Y-Z ，稳定无间隙
•可搭配同轴/三轴探针夹具使用
主要特点：小巧灵活，使用范围广 参考价面议
DR/L-100m/V优测高精度直流探针座
•适用于I-V/C-V/RF/亚微米级测试测试的探针座
•线性无后座力移动，磁性吸附，带磁力开关/真空吸附
•X-Y-Z 行程为 13mm*13mm*13mm，精度0.7um •进口制造精密牙具，100 牙/英寸
•高刚性结构，弹簧消隙 X-Y-Z，稳定无间隙 •可搭配同轴/三轴探针夹具/射频调节机构使用
优测高精度直流探针座 参考价面议
DR/L-100m/V-RF优测高精度射频探针座
•适用于I-V/C-V/RF/亚微米级测试测试的探针座
•线性无后座力移动，磁性吸附，带磁力开关/真空吸附
•X-Y-Z 行程为 13mm*13mm*13mm，精度0.7um •进口制造精密牙具，100 牙/英寸
•高刚性结构，弹簧消隙 X-Y-Z，稳定无间隙 •可搭配同轴/三轴探针夹具/射频调节机构使用
优测高精度射频探针座 参考价面议
12C美国GGB有源探头
美国GGB有源探头
此产品一般放置于探针台上使用，配合探针座，夹具给样品加载信号。探针座一般选用我司高精度探针座，如果采用其他品牌或者型号的探针座，需要定制一些标准夹具进行对接，可以提前讨论。主要参数如下：
•输入电容0.1pf
•输入电阻1.0兆欧

•工作电压范围 -10 to +20V
•带宽dc to 500 MHz
•射频探针夹具源，可以同时支持两个探头使用（PS-2） 参考价面议
74CJ-APT-KS/15美国APT四线法开尔文探针夹具
美国APT四线法开尔文探针夹具
APT开尔文探针适用于四线法测试，以减小线阻和接触电阻对测试的影响，提供小电阻的测试准确性。另外，一些高频测试，比如
150M左右，也可以采用这个。Currentleakage:150MHz 参考价面议
40A/67A系列等美国GGB40G高频探针（可提供无磁款）
美国GGB40G高频探针（可提供无磁款）
（1）测试频率范围： DC to 40 GHz
（2）输入衰减 ≤ 0.8db
（3）反射损耗≧ 18 db
（4）脚间距:25 to 2540um可选（脚间距越大，损耗越严重）
（5）测试重复性优于-80db
（6）单独弹簧加载触点设计 参考价面议
T-4-5/10/22等美国GGB直流探针（软针）
美国GGB直流探针（软针）
•T-4 系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者 FIB(聚焦离子束) 制作的 mini 电极。
•T-4 系列软针的结构采用不同直径钨材质针须焊接于镀锡的铜材质针杆上。 参考价面议
ST-20-0.5/1.0/2.0/5.0等美国GGB直流探针（微米级硬探针）
美国GGB直流探针（微米级硬探针）
ST 系列硬针是 0.020 inch (0.51mm) 直径钨材质针杆经过精密电化学加工成为不同的针尖直径，长度为 1.5inch(38.1mm)的探针。这种探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。ST 系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。该探针可以选择表面镀镍，如果选择镀镍则型号后面增加“NP”。 参考价面议

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