美国GGB40G高频探针（可提供无磁款）

（1） 测试频率范围：  DC to 40 GHz

（2） 输入衰减  ≤ 0.8db

（3） 反射损耗≧ 18 db

（4） 脚间距:25 to 2540um可选（脚间距越大 ， 损耗越严重）

（5） 测试重复性优于-80db

（6） 单独弹簧加载触点设计

（7） 材质：  BeCu , Tungsten or Nickel tips available

（8）  GSG ， SG ， SG ， GSGSG 等可选

（9） 同轴设计

美国GGB40G高频探针（可提供无磁款）图片

优测国芯电子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半导体和自动化设备综合解决方案的自主创新型技术企业。我们集研发、生产、销售和服务于一体，不仅拥有*的生产设备、加工工艺及品质检测体系，也拥有涉及材料、物理、化学、微电子、机械等专业的技术团队。现在主营的产品有：4寸、6寸、8寸、12寸手动探针台、高压大功率探针台、真空高低温探针台，半自动探针台，全自动探针台等，可以完成I-V/C-V测试，脉冲I-V测试，RF/mmW测试，高压、大电流测试，MEMS、光电器件等测试。专业的设计人员也可以按客户的要求量身定制，如搭配光电流扫描成像或拉曼-瞬态荧光寿命成像系统、太阳能发生器、多普勒测试仪、积分球等，在常规探针台功能上进行延伸拓展来满足不同客户的测试需求。