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ST400型三维表面形貌仪
产品介绍ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪，采用的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品，并具有多种选项，包含360°旋转工作台，原子力显微镜模块，光学显微镜，特征区域定位等多种功能模块 参考价面议 -
Profilm3D光学轮廓仪Profilm3D
产品介绍Profilm3D光学轮廓仪进行表面粗糙度和表面形貌测量时，比探针式轮廓仪有更低的成本，但同样使用了当今分辨率光学轮廓仪采用的白光干涉(WSI)及相移干涉(PSI)测量技术，垂直分辨率可达次纳米级 参考价面议 -
F60-t全自动膜厚测量仪F60-t
产品介绍FilmetricsF60-t系列主要用于生产环境下的薄膜厚度自动测绘，像F50产品一样自动测绘薄膜厚度和折射率，但它增加了许多用于生产环境的功能，包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预装软件的工业计算机，还有可以升级到全自动晶圆传输的机型 参考价面议 -
F54微区域自动膜厚测量F54
产品介绍FilmetricsF54系列产品集成显微成像装置，可以自动测量微观区域的薄膜厚度分布，光斑尺寸可做到1um 参考价面议 -
F50自动膜厚测量系统F50
产品介绍F50系列自动膜厚测量系统能以每秒测绘两个点的速度快速测绘薄膜厚度，一个电动R-Theta平台可接受标准和定制化夹具，样品直径可达450毫米 参考价面议 -
F40微区域膜厚测量仪F40
产品介绍F40系列膜厚仪用于测量小到1微米区域的薄膜厚度，它能简单地固定在大多数显微镜的C型转接器上，这样的转接器是显微镜行业的标准配件 参考价面议 -
F30在线厚度测量系统F30
产品介绍F30系列在线厚度测量系统是监控薄膜沉积有力的工具，能实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数(n和k值)和半导体以及电介质层的均匀性 参考价面议 -
F3膜厚测量仪F3
产品介绍F3是我们、的光谱反射仪，搭配厚度与折射率的软件模组可以用来测量薄膜的特性，具备了这些软件模组的F3，不但包含我们的F20的所有能力，而且还具备了即时波长校准与寿命高达4万小时的光源，这意味着减少了客户长期维护的成本 参考价面议 -
F10-HC涂层测厚仪F10-HC
产品介绍F10-HC以FilmetricsF20平台为基础，根据光谱的反射数据分析，快速提供薄膜的测量结果 参考价面议 -
F20膜厚测量仪F20
产品介绍 F20系列是的台式薄膜厚度测量系统，只需按下一个按钮，不到一秒钟即可同时测量厚度和折射率 参考价面议 -
F10-AR反射率测量仪F10-AR
产品介绍 光谱反射率可用于测量眼镜片减反射(AR)光谱和残余颜色，以及硬涂层和疏水层的厚度，F10-AR就是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层而设计的台仪器，用户可在定义的任何波长范围内进行、和平均反射测试 参考价面议 -
OCSim光纤通信设计及仿真软件
产品介绍光纤通信系统设计及仿真软件OCSim，由加拿大McMaster大学和渥太华大学光子研究中心的科学家共同开发，软件代码用Matlab编写，对用户公开，有详细的代码注释等，非常适合进行二次开发 参考价面议