F3膜厚测量仪F3
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全光科技(北京)有限公司
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F3是我们、的光谱反射仪,搭配厚度与折射率的软件模组可以用来测量薄膜的特性,具备了这些软件模组的F3,不但包含我们的F20的所有能力,而且还具备了即时波长校准与寿命高达4万小时的光源,这意味着减少了客户长期维护的成本。
F3不到一秒钟即可测量厚度与折射率,如同我们所有的厚度测量仪,通过USB端口安装到Windows系统电脑平台上,几分钟内即可完成设定,而且F3系统仅需USB连接而不需另外供电。F3系列膜厚仪的选择同样取决于薄膜厚度范围的测量。
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