台式X荧光光谱仪非真空能量色散X荧光光谱仪:
EDX-6000X荧光光谱仪融合经验系数法、基本参数法等分析方法,测试数据的准确性能得到全面保证。
EDX-6000X荧光光谱仪基本参数法(FP法):仪器根据实际检测物质,通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高,计算较复杂,适合缺少对应标样的物质检测。
EDX-6000X荧光光谱仪经验系数法:仪器依据对标准样品的测定,确定影响系数。对标准样品要求高,需和待测样品类型相近,校正模型简单。
软件功能
元素含量分析范围为2 PPm到99.99%采用内标校正,提高非定性式样测量精度用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法全自动定量分析报告简捷准确自适应初试化校正光谱的自动获取和显示。具有自动检测仪器工作状态的功能。自动判别样品及自动分析。提供扩展接口,进一步作其他元素分析,从钙到铀元素。硬件美国进口探测器,高速脉冲高度分析系统美国SPELLMAN高压发生器美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好尺寸&重量电源:550220V±10% 50Hz环境温度:10℃-28℃环境湿度:≤70 %RH(25℃室温)产品优势台式X荧光光谱仪非真空能量色散X荧光光谱仪:无损检测在无标准样品时亦可准确分析测量时间比化学方法短,不需要辅助材料计算机进行数据处理,分析快速准确高分辨率图形即时显示,由不同色块加以判断区分硅半导体探测器元素含量分析范围为2 PPm到99.99%采用BG内标校正,提高非定性式样测量精度全自动定量分析报告简捷准确自适应初试化校正光谱的自动获取和显示具有自动检测仪器工作状态的功能自动判别样品及自动分析
技术参数: